Cette direction décompose et explique les produits spécifiques, les tâches de mesure, les entrées d'imagerie, les itinéraires algorithmiques, les sorties proposées et les méthodes d'acceptation, qui peuvent être utilisés pour évaluer les échantillons et les conditions du système avant l'établissement de projets d'entreprise.
Portée de l'industrie :Dispositifs de lumière structurée et de diffraction.
Implique la mesure des itinéraires :Inversion de position de l'ordre de diffraction, comparaison de réseaux de points lumineux séparés, étalonnage des coordonnées de commande/surface cible en deux dimensions.
Réseau de diffraction standard · Inversion de position de l'ordre de diffraction
Angle de point de diffraction et périodes candidates
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Plateau tournant à réseau · Inversion de position de l'ordre de diffraction
Trajectoire du point correspondant à l'angle
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Instrument d'enseignement de longueur d'onde laser · Inversion de position d'ordre de diffraction
Distance du point de diffraction et longueurs d'onde candidates
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Échantillon de microstructure périodique · Inversion de position de l'ordre de diffraction
Modifications de l'espacement des grades
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Banc d'essai de dispositifs acousto-optiques · Comparaison de réseaux de spots lumineux séparés
Trajectoire ponctuelle de premier niveau et énergie relative
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Séparateur de faisceau de diffraction multi-ordres · comparaison de réseaux de points lumineux séparés
Écart de commande positif et négatif
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Éprouvette de test de réseau de microtrous · Étalonnage bidimensionnel des coordonnées de la surface cible/commande
Angle du réseau et résidu d’alignement
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Composant de projection de diffraction·Comparaison de réseaux de points lumineux séparés
Distance entre les points et courbe de température
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Diffraction par réseau et structure périodique : 8 scénarios d'application potentiels des algorithmes de point laser et de point lumineux
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357