Cette direction décompose et explique les produits spécifiques, les tâches de mesure, les entrées d'imagerie, les itinéraires algorithmiques, les sorties proposées et les méthodes d'acceptation, qui peuvent être utilisés pour évaluer les échantillons et les conditions du système avant l'établissement de projets d'entreprise.
Portée de l'industrie :Plaquettes et emballages de semi-conducteurs.
Implique la mesure des itinéraires :Comparaison séparée du réseau de points lumineux, étalonnage des coordonnées de commande/surface cible en deux dimensions, forme et distribution relative des points lumineux, synchronisation et dérive des points lumineux.
Comparaison de puces nues VCSEL et de réseaux de points séparés
Points détachables et emplacements des défauts
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Module de package VCSEL · Étalonnage des coordonnées de commande/cible en deux dimensions
Pose du treillis et résidu de référence
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Composant de champ lointain VCSEL · Forme du spot et distribution relative
Largeur de la zone et répartition morphologique
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Comparaison des réseaux de lentilles VCSEL et des réseaux de points séparés
Liste des compensations d'enregistrement et des valeurs aberrantes
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Module Pulse VCSEL · Synchronisation et dérive du spot
Tours de déclenchement et discrétisation centrale
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Module de projection de points proche infrarouge·comparaison de réseaux de points lumineux séparés
Modifications du centre du tableau et de l'espacement des points
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Carte de test de pilote VCSEL·Comparaison de réseaux de points lumineux séparés
Le groupe d'entraînement correspond au point visible
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Package de collimation VCSEL · Forme du spot et distribution relative
Espacement des points, largeur et état de fusion
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →VCSEL et réseau d'émission : 8 scénarios d'application potentiels des algorithmes de point laser et de point lumineux
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
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