In dieser Richtung werden spezifische Produkte, Messaufgaben, Bildgebungseingaben, Algorithmusrouten, vorgeschlagene Ausgaben und Akzeptanzmethoden aufgeschlüsselt und erläutert, die zur Bewertung von Proben und Systembedingungen vor der Einrichtung von Unternehmensprojekten verwendet werden können.
Branchenumfang:Halbleiterwafer und Verpackung.
Beinhaltet Messrouten:Separater Vergleich der Lichtpunktanordnung, zweidimensionale Kalibrierung der Befehls-/Zieloberflächenkoordinaten, Lichtpunktform und relative Verteilung, Lichtpunktzeitpunkt und -drift.
Vergleich von VCSEL-Bare-Chips und getrennten Spot-Arrays
Abnehmbare Punkte und Defektstellen
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →VCSEL-Paketmodul · Zweidimensionale Befehls-/Zielkoordinatenkalibrierung
Gitterpose und Referenzrest
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →VCSEL-Fernfeldkomponente · Punktform und relative Verteilung
Zonenbreite und morphologische Verteilung
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Vergleich von VCSEL-Linsen-Arrays und getrennten Spot-Arrays
Liste der Registrierungsoffsets und Ausreißer
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Puls-VCSEL-Modul · Spot-Timing und Drift
Triggerrunden und Zentrumsdiskretisierung
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Nahinfrarot-Punktprojektionsmodul · Vergleich der getrennten Lichtpunktanordnung
Array-Mittelpunkt und Punktabstand ändern sich
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →VCSEL-Treiber-Testplatine · Separater Vergleich der Lichtpunkt-Arrays
Die Antriebsgruppe entspricht dem sichtbaren Punkt
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →VCSEL-Kollimationspaket · Spotform und relative Verteilung
Punktabstand, Breite und Zusammenführungsstatus
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →VCSEL und Emissionsarray: 8 mögliche Anwendungsszenarien von Laserpunkt- und Lichtpunktalgorithmen
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357