Ophir VCSEL-Messungen
Messkategorien für VCSEL-Emissionsarrays und Strahlmorphologie
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →LSP028 · VCSEL und Emissionsarray · Halbleiterwafer und Verpackung
Teilweise wiederverwendbar
Registrierungskandidatenprüfung von Mikrolinsen und Emissionsarrays
Mit Blick auf das VCSEL-Linsenarray und unter Verwendung des Trennungslichtpunktarray-Vergleichs als Beobachtungsroute ist geplant, eine Liste von Registrierungsversätzen und abnormalen Punkten auszugeben. Die Seite dient der Projektbewertung und bedeutet nicht, dass die Entwicklung abgeschlossen oder vor Ort abgenommen wurde.
Zusammenfassung der Projektbeurteilung
Produkt/GerätVCSEL-Linsenarray
Route messenARRAY·Separater Spot-Array-Vergleich
FähigkeitsbewertungTeilweise wiederverwendbar
VerifizierungsstatusDie tatsächliche Maschinen-/Produktdomänenabnahme dieses Szenarios wurde nicht durchgeführt
Szenennatur:Ähnliche mögliche Einsatzszenarien für Laserspots. Das mögliche Anwendungsszenario ist noch nicht zu einem vollständigen Produktsystem entwickelt; Die tatsächliche Maschinen-/Produktdomänenabnahme dieses Szenarios wurde nicht durchgeführt. Die tatsächliche Produkt-/Produktdomänen-Akzeptanzmenge in der Katalogstatistik beträgt 0.
Geschäftsaufgaben und beabsichtigte Ergebnisse
- Zielgruppe
- VCSEL-Linsen-Array: Vergleich der getrennten Lichtpunkt-Arrays
- Pseudoausgabe
- Liste der Registrierungsoffsets und Ausreißer
- Anwendbare Bedingungen
- Sie müssen das Layout und die Relaisvergrößerung kennen
- Priorität
- Allgemeine Erweiterung. Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Bildeingabe und Algorithmus-Routing
Bildgebungs- und Gerätebedingungen
Separate und nummerierbare Mehrfachlichtpunkte, feste Empfangsebene und festes Sichtfeld. Nahinfrarot-Reaktionsdetektor, synchronisierte Auslösung und trennbare Nah-/Fernfeld-Punktbildgebung
ARRAY·Separater Spot-Array-Vergleich
Separate und nummerierbare Mehrfachlichtpunkte, feste Empfangsebene und festes Sichtfeld
- A102Extraktion von punktverbundenen Domänenkandidaten mit mehreren Lasern
- A105Zweites Moment des Laserflecks und Durchmesser der Hauptachse
- A107Diagnose der Laserpunktqualität und Benutzerfreundlichkeit
- A108Eins-zu-eins-Abgleich von Referenzbits mehrerer Laserpunkte
- A112Zweidimensionale Wiederholgenauigkeit und Abdeckungsellipse des Laserpunkts
Vorhandene algorithmische Beweise:A101–A112 nur vollständige analytische Synthese vor Ort und kontrollierte Geometrieüberprüfung; siehe laser_spot_benchmark.json
Aktuelle Fähigkeiten und Fähigkeiten, die ergänzt werden müssen
Teilweise wiederverwendbar
Erfordert Kalibrierung, Synchronisierung oder Integration
Das Frontend zur Lichtpunkterkennung oder das Timing-Statistikmodul können wiederverwendet werden, das Projekt muss jedoch noch geometrische Kalibrierung, Zeitsynchronisation, Bewegungskompensation oder Gerätesystemintegration hinzufügen.
Lücken in diesem Szenario:Punktsequenznummerierung, lokaler ROI, Crosstalk und Okklusionsverarbeitung sind erforderlich; A108 stimmt nur nach Entfernung im gleichen Koordinatensystem überein. Das Layout und die Relaisvergrößerung müssen bekannt sein. Die Anzahl der Lichtpunkte und die Anzahl der physikalischen Emissionseinheiten müssen nicht eins zu eins übereinstimmen.
Lücken auf Routenebene:Punktsequenznummerierung, lokale ROI-, Übersprech- und Okklusionsverarbeitung sind erforderlich; A108 stimmt nur nach Entfernung im gleichen Koordinatensystem überein
„Teilweise wiederverwendbar“ beschreibt lediglich das relative Entwicklungsvolumen und stellt keine Zusage zu Genauigkeit, Tempo, Stabilität oder Lieferzeit dar.
Verifizierungsmethoden und Akzeptanzvoraussetzungen
Überprüfen Sie die Punktanzahl, Übereinstimmungsraten und Nichtübereinstimmungen mithilfe bekannter Gitter- und künstlicher Defekt-/Überlappungs-/Verschlüsselungsdaten. Gegenprüfung mit mikroskopischen Aufnahmen, unabhängigen Radiometern und Design-Arrays
| Annahmeartikel | Für die Projektbestätigung sind Nachweise erforderlich | Aktueller Stand |
|---|---|---|
| Eingaben und Beispiele | Echte Originalbilder des Geräts, normale/abnormale Proben, Belichtungs- und Lichtwegbedingungen, Probengruppierung und -beiseite | Nicht bereitgestellt, wartet auf Projekteingabe |
| Größe und Fehler | Unabhängiger Referenzwert, Kalibrierungsprotokoll, Fehlerstatistikkaliber und gegenseitige Bestätigungsschwelle | Nicht verifiziert |
| Ausnahmen und Grenzen | Voraussichtlicher Umgang mit verpassten Erkennungen, falschen Erkennungen, Überbelichtung, Okklusion, Reflexion, Außer-Sicht- und Kommunikationsstörungen | Zu definieren |
| Systemintegration | Schnittstelle, Zeitsynchronisierung, Bereitstellungsplattform, Tempo, Protokoll, Version und kontinuierliche Laufaufzeichnung | Nicht integriert |
Beweisquellen und Zitiergrenzen
Die Quelle unterstützt Messprinzipien oder ähnliche Anwendungen; Die Modulkombination, das Gerät und die Akzeptanzmethode in diesem Szenario sind technische Ableitungen und die Produktüberprüfung wurde noch nicht abgeschlossen.
Ophir divergenter Weitwinkelstrahl
Bildbedingungen für Fernfeldaufnahme und Weitwinkelstrahl
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Umfang der Quellennutzung:Die öffentlichen Informationen werden zur Unterstützung des Messprinzips oder der Existenz ähnlicher Anwendungen verwendet und beweisen nicht, dass dieses Szenario von Jishi Technology entwickelt, eingesetzt oder akzeptiert wurde.
Projektberatung
xuzhiyang0928@gmail.com
Senden Sie Muster und Gerätezustände zur Klärung des Entwicklungs- und Lieferumfangs
Registrierungskandidatenprüfung von Mikrolinsen und Emissionsarrays
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com