Giải pháp ứng dụng công nghiệp · CASE-05Kế hoạch ứng dụng, không có hồ sơ nghiệm thu tại chỗ của khách hàng được hình thành

Kế hoạch ứng dụng để phân tích hình dạng vết lõm và hình dạng lồi của vỏ tế bào

Giải pháp này chủ yếu sử dụng chức năng quét hồ sơ bằng laser của bề mặt nhìn thấy được để tính toán sự thay đổi chiều cao, phạm vi lõm và lồi cũng như sự khác biệt giữa các trạng thái của vỏ pin hoặc tấm làm mát chất lỏng so với tham chiếu. Sơ đồ một điểm chỉ được sử dụng để xác định trước xu hướng thay đổi của vị trí.

Minh họa chuỗi xử lý từ đầu vào camera đến thuật toán, hiệu chuẩn, đầu ra kinh doanh và chấp nhận hạng mục phụ của điểm laser, ma trận điểm và đường laser
Sơ đồ dây chuyền xử lý Các chỉ số đường dẫn quang, hiệu chuẩn, giao diện, đầu ra và chấp nhận thực tế được xác nhận bởi dự án.

Tóm tắt phán quyết dự án

Bản chất trangKế hoạch ứng dụng doanh nghiệp, không có hồ sơ nghiệm thu tại chỗ của khách hàng được hình thành
đầu vào hình ảnhquét tia laser
đầu ra chínhChênh lệch chiều cao bề mặt, ứng viên bị lõm hoặc phồng, trạng thái bao phủ và hồ sơ kiểm tra lại
Điều kiện tiên quyết để thực hiệnQuét toàn bộ vỏ, mốc kẹp, điều kiện bù thái độ và mẫu tham chiếu
Tình trạng hiện tại:Kế hoạch ứng dụng, không có hồ sơ nghiệm thu tại chỗ của khách hàng được hình thành

Nhiệm vụ và đầu vào hình ảnh

Sự thay đổi màu sắc trên bề mặt có độ phản chiếu cao có thể bị nhầm lẫn với biến dạng; ngược lại, độ phồng cục bộ thực sự có thể không rõ ràng khi nhìn từ trên xuống thông thường.

Dữ liệu đầu vào: phần và vị trí bề mặt có thể nhìn thấy hoàn chỉnh, trạng thái tham chiếu, hồ sơ kẹp/nhiệt độ và sự khác biệt về chiều cao đã biết độc lập. Ban đầu, sử dụng vỏ hoặc mẫu chuẩn không tích điện để lấy mẫu.

Xử lý và xuất thuật toán

Đồng bộ hóa quét → Tạo bề mặt tham chiếu/tạo phần tham chiếu → Bản đồ chiều cao hoặc chênh lệch → Vùng lõm và lồi và số liệu thống kê đo bị thiếu.

Kết quả đầu ra: chiều cao/độ sâu của vùng nhìn thấy được, phạm vi, phần dư chuẩn và vùng phủ sóng; phiên bản dịch chuyển điểm không tạo ra phạm vi khuyết tật bề mặt đầy đủ.

Thực hiện và xác minh

Phản ứng tổng hợp quét thích ứng, trích xuất khu vực và báo cáo kết quả theo điều kiện vật liệu và bề mặt, đồng thời phạm vi đo thực tế được xác định bởi mẫu.

Phương pháp xác minh: Sử dụng máy đo biên dạng, tọa độ ba chiều hoặc xác minh khối đo độc lập để kiểm tra phi lê, cạnh, phản xạ gương, lắp ráp lại và biến dạng kẹp tương ứng.

Ranh giới áp dụng và cơ sở hiện có

Nó không đánh giá tình trạng sức khỏe, khiếm khuyết bên trong hoặc tình trạng an toàn của pin; nó không tuyên bố rằng toàn bộ bề mặt không có khuyết tật từ một số lượng nhỏ các điểm lấy mẫu.

Không có hồ sơ chấp nhận máy thực tế nào cho kịch bản này trong dự án này và cốt lõi của việc quét 3D và phân khúc kinh doanh cần phải được hoàn thành.

Thuật toán tương ứng:Thuật toán phân tích địa hình và hình học bề mặt bằng tia laser;Phát triển thuật toán dịch chuyển điểm laser và đo độ dày hai bên。

Tham khảo thông tin công cộng của ngành

Nội dung sau đây dùng để minh họa sự phân công lao động có hệ thống của các nhiệm vụ tương tự trong các tài liệu công nghiệp. Dự án ban đầu không thuộc về Jishi Technology và các tham số dữ liệu gốc không được chuyển đổi thành cam kết hiệu suất của trang này.

Thông tin công khai của bên thứ ba · LMI Technologies / +Vantage

+Vantage: Kiểm tra hình học 3D linh kiện ắc quy

Giới thiệu trường hợp công khai LMI +Vantage tích hợp công cụ và quét laser 3D xung quanh hình dạng thành phần pin, độ cong vênh và phép đo hình học để kiểm tra không tiếp xúc.

Tài liệu tham khảo cho chương trình này:Trường hợp này minh họa rằng các thuật toán bề mặt/hình học cần phải được thiết kế đồng thời với công cụ, phạm vi quét và giao diện sản xuất thực tế, thay vì chỉ hiển thị sơ đồ ba chiều.

Ranh giới tham khảo:Các đối tượng và hệ thống được tiết lộ thuộc về trường hợp ban đầu và không tương đương với việc phồng pin của chúng tôi, tất cả các thử nghiệm về pin hoặc bằng chứng chấp nhận có cùng độ chính xác.

Xem thông tin công khai ban đầu →

Xúc tiến và chấp nhận dự án doanh nghiệp

  1. xác nhận phạm viLàm rõ các đối tượng, máy trạm, đầu vào, đầu ra, đơn vị, giao diện và các điều kiện bất thường phải được đề cập.
  2. Xác minh mẫuSử dụng các mẫu bình thường và bất thường đại diện để thiết lập đường cơ sở và ghi lại những gì hiệu quả, những gì không thành công và những khoảng trống dữ liệu.
  3. Gỡ lỗi chung phát triểnHoàn thành thuật toán, hiệu chuẩn, giao diện và điều chỉnh thiết bị theo phạm vi được phê duyệt và giữ lại phiên bản, thông số và trạng thái bất thường.
  4. Chấp nhận mặt hàngSử dụng các mẫu độc lập và kiểm tra lại giá trị tham chiếu để xác nhận lỗi, khả năng phát hiện, nhịp độ, độ ổn định và sản phẩm phân phối tương ứng.
Tư vấn dự án

Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng

Kế hoạch ứng dụng để phân tích hình dạng vết lõm và hình dạng lồi của vỏ tế bào

Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.

Điện thoại: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Thông tin điền vào sẽ chỉ được sử dụng để đánh giá và liên hệ cho dự án này. Vui lòng không gửi thông tin cá nhân trái phép hoặc dữ liệu nhạy cảm.