Giấy gốc của Trung tâm đối xứng xuyên tâm
Định vị trung tâm pixel phụ của các mục tiêu gần như đối xứng hướng tâm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP243 · Dụng cụ nghiên cứu kính hiển vi và nhíp quang học · Nghiên cứu hình ảnh kính hiển vi và hạt
Có thể tái sử dụng một phần
Đăng ký hai chiều của trường nhìn vi mô và điểm laser
Đối mặt với nền tảng xử lý microlaser, hiệu chuẩn tọa độ bề mặt lệnh/mục tiêu hai chiều được sử dụng làm tuyến quan sát và sai số dư của tọa độ XY vi mô được lên kế hoạch là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịBàn xử lý microlaser
Đo lộ trìnhCAL · Hiệu chuẩn tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Bảng xử lý vi laser: hiệu chuẩn tọa độ bề mặt mục tiêu/lệnh hai chiều
- đầu ra giả
- Phần dư tọa độ XY hiển vi
- Điều kiện áp dụng
- Độ phóng đại của vật kính và kính che cần phải được cố định
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Che các điểm tương ứng đã hiệu chỉnh và các điểm đặt độc lập của trường nhìn hai chiều, đồng thời cố định đường quang và mặt phẳng làm việc. Kính hiển vi, lấy mẫu chuyển tiếp và máy ảnh thích ứng với bước sóng
CAL · Hiệu chuẩn tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều
Hiệu chuẩn các điểm tương ứng và các điểm đặt độc lập bao gồm trường nhìn hai chiều, đường quang cố định và mặt phẳng làm việc
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A109Hiệu chỉnh đa thức tọa độ pixel hai chiều thành vật lý
- A110Ánh xạ hiệu chuẩn điểm laser và truyền hiệp phương sai
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Yêu cầu thu thập hiệu chuẩn, xác định tọa độ và xác minh; ánh xạ thực nghiệm hai chiều không đại diện cho bất kỳ hiệu chuẩn ba chiều hoặc robot nào. Độ phóng đại của vật kính và kính che cần phải được cố định. Định vị hình ảnh hạt là một quá trình di chuyển thuật toán và mô hình hình ảnh phải được xác minh lại.
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu thu thập hiệu chuẩn, xác định tọa độ và xác minh; ánh xạ thực nghiệm hai chiều không đại diện cho bất kỳ hiệu chuẩn ba chiều hoặc robot nào
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Tách biệt các điểm hiệu chuẩn và điểm đặt để kiểm tra cạnh, qua lại, nhiệt độ và các lỗi kẹp lặp lại. Bàn kính hiển vi, thước đo vi mô và tham chiếu định vị độc lập
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Nghiên cứu hiệu chỉnh vị trí của nhíp quang học camera
Phát hiện vị trí hạt hạn chế và tác động của việc tiếp xúc và lấy mẫu đối với hiệu chuẩn
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Đo chùm tia nhỏ Ophir
Điều kiện quang học trong các phép đo trường gần, trường xa và trường chế độ chùm tia nhỏ
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Đăng ký hai chiều của trường nhìn vi mô và điểm laser
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com