Ứng dụng điều chỉnh vị trí chùm tia Duma và điều chỉnh quang học
Các danh mục ứng dụng cho vị trí chùm tia, thiết lập quang học và hình dạng điểm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP222 · Kiểm tra độ tin cậy và môi trường · Mô-đun laser và quang điện tử
Mô-đun tái sử dụng
Thống kê độ phân tán của các điểm tham chiếu sau khi tháo rời và lắp ráp nhiều lần
Đối với các thành phần cơ quang nhỏ, vị trí của điểm sáng trên bề mặt mục tiêu được sử dụng làm đường quan sát và các vòng kẹp và hiệp phương sai XY được lên kế hoạch làm đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịCác thành phần cơ quang nhỏ
Đo lộ trìnhXY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Chấm điểm năng lựcMô-đun tái sử dụng
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Các thành phần cơ quang nhỏ: vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
- đầu ra giả
- Vòng kẹp và hiệp phương sai XY
- Điều kiện áp dụng
- Các yếu tố vận hành và dụng cụ nên được nhóm lại
- sự ưu tiên
- Ưu tiên xác minh. Kiểm tra kẹp tĩnh có thể dễ dàng giữ lại dữ liệu lặp lại độc lập
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che đi điểm sáng và nền trong trường nhìn. Hộp điều khiển nhiệt độ/bàn lắc và đường quang tham chiếu cố định được đồng bộ hóa
XY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che điểm sáng và nền trong trường nhìn
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Mô-đun tái sử dụng
Các mô-đun hiện có có thể được sử dụng làm máy chủ
Các mô-đun thống kê, chẩn đoán chất lượng hoặc định vị điểm sáng hiện có có thể được sử dụng làm cơ sở tính toán chính; ROI, việc hiệu chuẩn, xác minh ngưỡng và giao diện vẫn cần được thiết bị hoàn thành.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần phải có ROI, hiệu chỉnh thước/mặt phẳng và xác định điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu. Các yếu tố vận hành và dụng cụ nên được nhóm lại. Giữ tọa độ gốc chưa được lọc và khung không hợp lệ
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu ROI, hiệu chuẩn thước/mặt phẳng và định nghĩa điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu
"Các mô-đun có thể tái sử dụng" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Được kiểm tra độc lập với bệ dịch chuyển hai chiều và các điểm tham chiếu cố định, lỗi trung tâm báo cáo P95, phát hiện sai và phát hiện sai. So sánh với dụng cụ không tải, cảm biến nhiệt độ và tham chiếu dịch chuyển độc lập
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Gương phản xạ nhanh Newport và công nghệ ổn định chùm tia chủ động
Nguyên lý hệ thống lệch vị trí, lệch điểm và bù chủ động
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Nghiên cứu về độ bất định đốm của phép đo tam giác bằng laser
Ảnh hưởng của đốm đến độ không đảm bảo về vị trí và khoảng cách
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Thống kê độ phân tán của các điểm tham chiếu sau khi tháo rời và lắp ráp nhiều lần
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com