LSP109 · Hệ thống cuộn và màng liên tục · Màng, lá và vật liệu composite
Có thể tái sử dụng một phần

Kiểm tra đo song phương độ dày băng keo

Đối diện với dải vật liệu composite, sử dụng phép đo chênh lệch bề mặt tham chiếu/hai bên làm lộ trình quan sát, việc lấy mẫu độ dày chênh lệch được dự định là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.

Tóm tắt phán quyết dự án

Sản phẩm/Thiết bịbăng tổng hợp
Đo lộ trìnhDÀY · Đo chênh lệch bề mặt song phương/tham chiếu
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.

Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến

đối tượng mục tiêu
Băng tổng hợp: đo chênh lệch trên cả hai mặt/bề mặt tham chiếu
đầu ra giả
Lấy mẫu độ dày chênh lệch
Điều kiện áp dụng
Kết cấu và vật liệu phản chiếu nhựa phải được tách biệt
sự ưu tiên
Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.

Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán

Điều kiện hình ảnh và thiết bị

Các đầu dịch chuyển điểm hai bên được đồng bộ hóa hoặc một đầu có mặt phẳng tham chiếu ổn định đã biết. Đầu đo điểm, bộ mã hóa góc/tốc độ cho cuộn hoặc màng

DÀY · Đo chênh lệch bề mặt song phương/tham chiếu

Đầu dịch chuyển điểm song phương đồng bộ hoặc đầu đơn có bề mặt tham chiếu ổn định đã biết

  • A97Hiệu chuẩn tuyến tính bình phương tối thiểu có trọng số
  • A100Sự lan truyền độ không đảm bảo độ nhạy bậc nhất
  • A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
  • A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
  • A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng

Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json

Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung

Có thể tái sử dụng một phần

Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp

Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.

Những khoảng trống trong cảnh này:Cần có các mô hình hiệu chỉnh khoảng cách laser điểm, cộng tuyến/đồng bộ hóa và khoảng cách tham chiếu trên cả hai mặt; chiều cao của một điểm không trực tiếp bằng độ dày. Vật liệu phản chiếu kết cấu và nhựa phải được tách riêng. Phạm vi đo điểm được xác định bởi khoảng cách lấy mẫu

Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần có các mô hình hiệu chỉnh khoảng cách laser điểm, cộng tuyến/đồng bộ hóa và khoảng cách tham chiếu trên cả hai mặt; chiều cao của một điểm không trực tiếp bằng độ dày

"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.

Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận

Sử dụng các lát cắt dày tiêu chuẩn và các mẫu bị cong vênh để so sánh, đồng thời thay đổi góc nghiêng và pha chuyển động để kiểm tra sai số vi phân. Các phép đo lặp lại của tấm dày, cuộn tiêu chuẩn và các bước tốc độ

Mặt hàng chấp nhậnBằng chứng cần thiết để xác nhận dự ánTình trạng hiện tại
Đầu vào và mẫuKhung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bênChưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án
Độ lớn và lỗiGiá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhauChưa được xác minh
Ngoại lệ và ranh giớiDự kiến ​​xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếpĐể được xác định
Tích hợp hệ thốngGiao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tụcKhông tích hợp

Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn

Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.

LS-S05 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Ứng dụng độ dày Micro-Epsilon

Đo độ dày kết hợp cảm biến dịch chuyển; các nguyên tắc đo lường khác nhau nên được chọn riêng

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
LS-S08 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Ứng dụng căn chỉnh công nghiệp bằng laser dễ dàng

Các loại căn chỉnh laser cho trục, thiết bị và lắp đặt công nghiệp

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án

Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng

Kiểm tra đo song phương độ dày băng keo

Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.

Điện thoại: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Thông tin điền vào sẽ chỉ được sử dụng để đánh giá và liên hệ cho dự án này. Vui lòng không gửi thông tin cá nhân trái phép hoặc dữ liệu nhạy cảm.