Nguyên lý tam giác laser Micro-Epsilon
Truyền, nhận ảnh và đo khoảng cách sau khi hiệu chuẩn
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP086 · Lắp ráp pin và đo vỏ · GÓI mô-đun pin và các bộ phận lưu trữ năng lượng
Mô-đun tái sử dụng
Giám sát điểm quay trở lại của chốt định vị pallet
Đối diện với khay lưu trữ năng lượng, sử dụng vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu làm đường quan sát, dư lượng phản hồi hai chiều được dự định là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịkhay đựng năng lượng
Đo lộ trìnhXY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Chấm điểm năng lựcMô-đun tái sử dụng
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Khay lưu trữ năng lượng: vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
- đầu ra giả
- Phần dư hồi quy hai chiều
- Điều kiện áp dụng
- Một mục tiêu ổn định cần được cài đặt trên pin
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che đi điểm sáng và nền trong trường nhìn. Dụng cụ đo phạm vi điểm không tiếp xúc và mốc chuẩn ổn định
XY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che điểm sáng và nền trong trường nhìn
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Mô-đun tái sử dụng
Các mô-đun hiện có có thể được sử dụng làm máy chủ
Các mô-đun thống kê, chẩn đoán chất lượng hoặc định vị điểm sáng hiện có có thể được sử dụng làm cơ sở tính toán chính; ROI, việc hiệu chuẩn, xác minh ngưỡng và giao diện vẫn cần được thiết bị hoàn thành.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần phải có ROI, hiệu chỉnh thước/mặt phẳng và xác định điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu. Cần phải lắp một mảnh mục tiêu ổn định vào chốt. Sự dịch chuyển hình dạng và trạng thái điện hóa được kiểm tra riêng biệt
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu ROI, hiệu chuẩn thước/mặt phẳng và định nghĩa điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu
"Các mô-đun có thể tái sử dụng" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Đã được thử nghiệm độc lập với bệ dịch chuyển hai chiều và điểm tham chiếu cố định, báo cáo lỗi trung tâm P95, phát hiện sai và phát hiện sai. Tham khảo chéo các bộ phận tiêu chuẩn, bảng chuyển vị và đồng hồ đo tiếp xúc
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Ứng dụng dịch chuyển Micro-Epsilon
Các loại đo chiều cao, khoảng cách và vị trí công nghiệp
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Ứng dụng độ dày Micro-Epsilon
Đo độ dày kết hợp cảm biến dịch chuyển; các nguyên tắc đo lường khác nhau nên được chọn riêng
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Giám sát điểm quay trở lại của chốt định vị pallet
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com