Các phép đo Ophir VCSEL
Các hạng mục đo lường hình thái chùm tia và mảng phát xạ VCSEL
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP025 · VCSEL và mảng phát xạ · Tấm bán dẫn và bao bì
Có thể tái sử dụng một phần
Điểm phát xạ mật độ thấp thiếu sàng lọc ứng viên
Đối với các chip trần VCSEL, việc so sánh mảng điểm sáng phân tách được sử dụng làm lộ trình quan sát và số điểm có thể phân tách cũng như vị trí lỗi được lên kế hoạch sẽ được đưa ra đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịKhuôn trần VCSEL
Đo lộ trìnhARRAY·So sánh mảng điểm riêng biệt
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Khuôn VCSEL: so sánh mảng điểm sáng tách biệt
- đầu ra giả
- Các điểm và vị trí khuyết tật có thể tháo rời
- Điều kiện áp dụng
- Mảng mật độ cao yêu cầu phân tách điểm chồng chéo mới
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Nhiều điểm sáng riêng biệt và có thể đánh số, mặt phẳng thu và trường nhìn cố định. Máy dò phản ứng cận hồng ngoại, kích hoạt đồng bộ và hình ảnh điểm trường gần/xa có thể tách rời
ARRAY·So sánh mảng điểm riêng biệt
Nhiều điểm sáng riêng biệt và có thể đánh số, mặt phẳng thu và trường nhìn cố định
- A102Trích xuất ứng cử viên miền được kết nối nhiều điểm laser
- A105Điểm laser mô men thứ hai và đường kính trục chính
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A108Kết hợp một-một các bit tham chiếu điểm đa tia laser
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần phải đánh số thứ tự điểm, ROI cục bộ, xử lý nhiễu xuyên âm và tắc nghẽn; A108 chỉ khớp theo khoảng cách trong cùng một hệ tọa độ. Mảng mật độ cao yêu cầu phân tách điểm chồng chéo mới. Số lượng điểm sáng và số lượng đơn vị phát xạ vật lý không nhất thiết phải tương ứng với nhau.
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần đánh số thứ tự điểm, ROI cục bộ, xử lý nhiễu xuyên âm và tắc nghẽn; A108 chỉ khớp theo khoảng cách trong cùng hệ tọa độ
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Xác minh số điểm, tỷ lệ khớp và sự không khớp bằng cách sử dụng dữ liệu mạng và lỗi nhân tạo/chồng chéo/xáo trộn đã biết. Kiểm tra chéo bằng ảnh vi mô, máy đo bức xạ độc lập và mảng thiết kế
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Chùm tia phân kỳ góc rộng Ophir
Điều kiện hình ảnh để thu nhận trường xa và chùm tia góc rộng
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Điểm phát xạ mật độ thấp thiếu sàng lọc ứng viên
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com