Ứng dụng điều chỉnh vị trí chùm tia Duma và điều chỉnh quang học
Các danh mục ứng dụng cho vị trí chùm tia, thiết lập quang học và hình dạng điểm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP019 · Khớp nối sợi và truyền chùm tia · Thiết bị truyền thông sợi và quang
Có thể tái sử dụng một phần
Khoảng cách điểm đầu ra đa lõi và sàng lọc lỗi
Đối với mảng sợi quang đa lõi, việc so sánh mảng điểm phân tách được sử dụng làm tuyến quan sát và số điểm, khoảng cách điểm và phần dư phù hợp được lên kế hoạch để xuất ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịmảng sợi đa lõi
Đo lộ trìnhARRAY·So sánh mảng điểm riêng biệt
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Mảng sợi quang đa lõi: so sánh mảng điểm sáng tách biệt
- đầu ra giả
- Số điểm, khoảng cách giữa các điểm và phần dư phù hợp
- Điều kiện áp dụng
- Chế độ lõi và hợp nhất điểm liền kề cần được phân biệt
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Nhiều điểm sáng riêng biệt và có thể đánh số, mặt phẳng thu và trường nhìn cố định. Công cụ ghép và quang học chuyển mạch trường gần/trường xa để ghi lại các chuyển vị
ARRAY·So sánh mảng điểm riêng biệt
Nhiều điểm sáng riêng biệt và có thể đánh số, mặt phẳng thu và trường nhìn cố định
- A102Trích xuất ứng cử viên miền được kết nối nhiều điểm laser
- A105Điểm laser mô men thứ hai và đường kính trục chính
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A108Kết hợp một-một các bit tham chiếu điểm đa tia laser
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần phải đánh số thứ tự điểm, ROI cục bộ, xử lý nhiễu xuyên âm và tắc nghẽn; A108 chỉ khớp theo khoảng cách trong cùng một hệ tọa độ. Các mẫu cốt lõi và sự kết hợp điểm liền kề cần được phân biệt. Vị trí trường gần và hiệu suất ghép thực tế được định lượng riêng
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần đánh số thứ tự điểm, ROI cục bộ, xử lý nhiễu xuyên âm và tắc nghẽn; A108 chỉ khớp theo khoảng cách trong cùng hệ tọa độ
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Xác minh số điểm, tỷ lệ khớp và sự không khớp bằng cách sử dụng dữ liệu mạng và lỗi nhân tạo/chồng chéo/xáo trộn đã biết. Sử dụng đồng hồ đo công suất độc lập và bệ dịch chuyển để xác minh vị trí tương ứng của đỉnh hiệu suất ghép
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Đo chùm tia nhỏ Ophir
Điều kiện quang học trong các phép đo trường gần, trường xa và trường chế độ chùm tia nhỏ
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Khoảng cách điểm đầu ra đa lõi và sàng lọc lỗi
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com