Ứng dụng điều chỉnh vị trí chùm tia Duma và điều chỉnh quang học
Các danh mục ứng dụng cho vị trí chùm tia, thiết lập quang học và hình dạng điểm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP009 · Sản xuất và lão hóa laser · Laser và mô-đun quang điện tử
Có thể tái sử dụng một phần
Ghi lại sự trôi dạt điện và nhiệt trên mô-đun laser
Đối với mô-đun laser bán dẫn, thời gian điểm sáng và độ lệch được sử dụng làm tuyến quan sát, đồng thời lên kế hoạch quỹ đạo tâm chùm tia đầu ra và thời gian chờ ổn định. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịMô-đun laser bán dẫn
Đo lộ trìnhTHỜI GIAN · Thời gian điểm sáng và độ trôi
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Mô-đun laser bán dẫn: định thời điểm và độ lệch
- đầu ra giả
- Quỹ đạo tâm chùm tia và thời gian chờ ổn định
- Điều kiện áp dụng
- Dòng điện đồng bộ và nhiệt độ trường hợp
- sự ưu tiên
- Ưu tiên xác minh. Thời gian điểm sáng tĩnh có thể được thu thập trước tiên để thiết lập bằng chứng về nhiệt độ và độ trôi.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Màn trập toàn cầu hoặc thời gian đọc đã biết, lưu dấu thời gian và mức phơi sáng thích ứng với tần số chuyển động. Camera thích ứng với bước sóng, bộ suy giảm và thiết bị cố định trường gần/xa cố định
THỜI GIAN · Thời gian điểm sáng và độ trôi
Màn trập toàn cầu hoặc thời gian đọc đã biết, lưu dấu thời gian, mức phơi sáng phù hợp với tần số chuyển động
- A22bộ lọc Kalman
- A25Ước tính phổ công suất Welch
- A72Lọc bất thường độ lệch tuyệt đối trung bình Hampel
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Yêu cầu xác minh tốc độ lấy mẫu/độ phơi sáng, đồng bộ hóa thời gian và bù chuyển động của máy ảnh mục tiêu tham chiếu; không thể thay thế cho máy đo độ rung Doppler laser. Dòng điện đồng bộ và nhiệt độ trường hợp. Thang độ xám pixel và công suất quang được hiệu chỉnh riêng
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu xác minh tốc độ lấy mẫu/độ phơi sáng, đồng bộ hóa thời gian và bù chuyển động của máy ảnh mục tiêu tham chiếu; không thể thay thế cho máy đo độ rung Doppler laser
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Xác minh răng cưa, pha, độ lệch và mất khung bằng bộ rung tần số hoặc bộ mã hóa đã biết. Máy phân tích chùm tia độc lập và kiểm soát nhiệt độ/ghi tham chiếu chéo dòng điện
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Phân tích chùm tia laser Ophir
Phân tích điểm camera và chẩn đoán laser công nghiệp; đo công suất cần có cảm biến đặc biệt
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Điều kiện chuẩn trực Edmund
Mối quan hệ giữa kích thước nguồn, tiêu cự và góc phân kỳ
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Ghi lại sự trôi dạt điện và nhiệt trên mô-đun laser
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com