IBM Fototermal Deflektometri Araştırması
Kırılma indisi gradyanının neden olduğu prob ışınının sapması prensibi
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP257 · Malzemeler ve Kimyasal Fototermal Araştırma · Kimyasal Damlacık Islatma ve Arayüz
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Emici ısıtmanın neden olduğu prob sapmasının incelenmesi
İnce film absorpsiyon test parçasının karşısında, gözlem rotası olarak fototermal prob sapması kullanılır ve modüle edilmiş sapma genliği ve faz adaylarının çıktı olarak alınması amaçlanır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazFilm absorpsiyon test parçası
Rotayı ölçTERMAL · Fototermal prob sapması
Yetenek DerecelendirmesiYeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Sahne doğası:Lazer noktaları için benzer potansiyel uygulama senaryoları. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- İnce film absorpsiyon test parçası: Fototermal prob sapması
- sözde çıktı
- Modülasyon Sapma Genliği ve Faz Adayları
- Geçerli koşullar
- Soğurma oranının ters çevrilmesi, çok katmanlı termal model gerektirir
- öncelik
- Özel geliştirme. Ölçüm/kontrol çekirdeğinin özel proje onayına göre desteklenmesi ve doğrulanması gerekiyor
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
Pompa/prob optik yolu, modülasyon referansı ve termal sınırlar bilinmektedir ve örnekler modülasyon frekansını kapsamaktadır. Pompa/prob optik yolu, senkronize modülasyon ve kontrollü sıcaklık ortamı
TERMAL · Fototermal prob sapması
Pompa/prob optik yolu, modülasyon referansı ve termal sınırlar bilinir ve örnekleme, modülasyon frekansını kapsar
- A74kısa süreli Fourier dönüşümü STFT
- A101Uyarlanabilir eşik lazer noktası gri tonlamalı merkez
- A103Logaritmik ikinci dereceden yüzey alt piksel nokta merkezi
- A107Lazer nokta kalitesi ve kullanılabilirlik teşhisi
- A112Lazer noktası iki boyutlu tekrarlanabilirlik ve kapsama elipsi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Çekirdek bilişimin eklenmesi gerekiyor
Işık noktası çıkarma yalnızca bir gözlem ön ucu olarak kullanılabilir ve üç boyutlu yeniden yapılandırma, kapalı döngü kontrolü, dalga cephesi veya fiziksel miktar ters çevirme gibi temel yeteneklerin ayrıca geliştirilmesi ve doğrulanması gerekir.
Bu sahnedeki boşluklar:Yeni faz kilitleme/termal difüzyon/kırılma modelleri ve fiziksel özellik parametrelerinin tersine çevrilmesinin eklenmesi gerekmektedir; görüntü sapması doğrudan termal iletkenlik veya emicilik sağlamaz. Soğurma oranının ters çevrilmesi çok katmanlı bir termal model gerektirir. Tüm fiziksel özellik çıktıları geliştirilecek ters çevirmelerdir ve doğrudan yer değiştirmelerle değiştirilmez.
Rota düzeyindeki boşluklar:Yeni faz kilitleme/termal difüzyon/kırılma modelleri ve fiziksel özellik parametrelerinin tersine çevrilmesinin eklenmesi gerekmektedir; görüntü sapması doğrudan termal iletkenlik veya emicilik sağlamaz
"Yeni çekirdekler gerekli" yalnızca göreceli geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresi konusunda bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Referans malzemeleri ve bağımsız termal analizörleri, değişen frekansı, ışın ofsetini ve sınır koşullarını kullanarak ters çevirmeyi doğrulayın. Referans malzemeleri, boş numuneler ve bağımsız fiziksel özellik enstrüman karşılaştırması
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
Alev yakınında NIST mavi ışık üçgenleme çalışması
Değerlerin ekstrapolasyonu olmadan, belirli yangın testlerinde yer değiştirme ölçümleri ve termal gradyan etkileri
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Lazer Üçgenlemenin Benek Belirsizliği Üzerine Araştırma
Beneklerin konum ve mesafe belirsizliğine etkisi
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Emici ısıtmanın neden olduğu prob sapmasının incelenmesi
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com