Hamamatsu PSD Teknik Notları
Işık noktası konumu, üçgen aralık ve konuma duyarlı algılama ilkeleri; PSD donanım performansı kamera uygulamasına aktarılmıyor
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP252 · Sıvı kırılması ve serbest sıvı yüzeyi · Proses sıvısı sprey köpüğü ve kristalizasyon
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
İki sıvı karıştırma prosesinin sapma çalışması
Şeffaf karıştırma hücresine bakıldığında, gözlem rotası olarak iletim sapması ve kırılma inversiyonu kullanılarak, prob açısı değişimi ve tekrarlanabilirliğin çıktı olarak alınması amaçlanmaktadır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazŞeffaf karıştırma tankı
Rotayı ölçREFRACT · İletim sapması ve kırılmanın ters çevrilmesi
Yetenek DerecelendirmesiYeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Sahne doğası:Lazer noktaları için benzer potansiyel uygulama senaryoları. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- Şeffaf Karıştırma Hücresi: İletim Sapması ve Kırılma İnversiyonu
- sözde çıktı
- Prob Açısı Değişimi ve Tekrarlanabilirlik
- Geçerli koşullar
- Spesifik konsantrasyonları atamak için tek başına sapma kullanılamaz
- öncelik
- Özel geliştirme. Ölçüm/kontrol çekirdeğinin özel proje onayına göre desteklenmesi ve doğrulanması gerekiyor
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
Geliş açısının, optik yol uzunluğunun, ortam sınırının ve sıcaklığın bilindiği bir iletim cihazı. Şeffaf akış kanalı veya sıvı yüzey yansıması ışık yolu, sıcaklık ve geometrik referans
REFRACT · İletim sapması ve kırılmanın ters çevrilmesi
Bilinen geliş açısına, optik yol uzunluğuna, orta sınıra ve sıcaklığa sahip iletim cihazı
- A101Uyarlanabilir eşik lazer noktası gri tonlamalı merkez
- A103Logaritmik ikinci dereceden yüzey alt piksel nokta merkezi
- A107Lazer nokta kalitesi ve kullanılabilirlik teşhisi
- A111Lazer nokta pikselinden kamera görüş açısına dönüşüm
- A112Lazer noktası iki boyutlu tekrarlanabilirlik ve kapsama elipsi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Çekirdek bilişimin eklenmesi gerekiyor
Işık noktası çıkarma yalnızca bir gözlem ön ucu olarak kullanılabilir ve üç boyutlu yeniden yapılandırma, kapalı döngü kontrolü, dalga cephesi veya fiziksel miktar ters çevirme gibi temel yeteneklerin ayrıca geliştirilmesi ve doğrulanması gerekir.
Bu sahnedeki boşluklar:Snell/ışın izleme ve parametre tanımlanabilirlik analizinin eklenmesi gerekmektedir; sapma, bileşimi veya konsantrasyonu benzersiz bir şekilde kanıtlayamaz. Yalnızca sapmaya dayalı olarak spesifik konsantrasyonlar atanamaz. Sıvı yüzey eğimi, kırılma ve hedef ötelemenin tanımlanabilir optik yollarla tasarlanması gerekir
Rota düzeyindeki boşluklar:Snell/ışın izleme ve parametre tanımlanabilirlik analizinin eklenmesi gerekmektedir; sapma, kompozisyonu veya konsantrasyonu benzersiz bir şekilde kanıtlayamaz
"Yeni çekirdekler gerekli" yalnızca göreceli geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresi konusunda bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Bilinen bir prizma veya kırılma indisi referans ortamı ve kontrollü sıcaklık kullanarak geometri/bileşimin çapraz duyarlılığını inceleyin. Standart kırılma sıvısı, sıvı seviyesi açı/yükseklik tablosu çapraz testi
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
IBM Fototermal Deflektometri Araştırması
Kırılma indisi gradyanının neden olduğu prob ışınının sapması prensibi
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →NIST 3D Görüntüleme Teknolojisi Açıklaması
Aktif nokta üçgenleme, taranan geometri ve hata yayılımı
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
İki sıvı karıştırma prosesinin sapma çalışması
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com