Ophir VCSEL ölçümleri
VCSEL emisyon dizisi ve ışın morfolojisi ölçüm kategorileri
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP025 · VCSEL ve emisyon dizisi · Yarı iletken plaka ve paketleme
Kısmen yeniden kullanılabilir
Düşük yoğunluklu emisyon noktası eksik aday taraması
VCSEL çıplak çipleri için gözlem rotası olarak ayırma ışık noktası dizisi karşılaştırması kullanılmış olup, ayrılabilir noktaların sayısı ve kusur konumlarının çıktı olarak alınması planlanmaktadır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazVCSEL çıplak kalıp
Rotayı ölçDİZİ·Ayrı nokta dizisi karşılaştırması
Yetenek DerecelendirmesiKısmen yeniden kullanılabilir
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Sahne doğası:Lazer noktaları için benzer potansiyel uygulama senaryoları. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- VCSEL kalıbı: ayrılmış ışık noktası dizisi karşılaştırması
- sözde çıktı
- Ayrılabilir noktalar ve kusur konumları
- Geçerli koşullar
- Yüksek yoğunluklu diziler yeni örtüşen nokta ayrımı gerektirir
- öncelik
- Genel uzantı. Doğrulamanın listelenen optik koşullara, kalibrasyona ve örneklere göre tamamlanması gerekir.
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
Ayrı ve numaralandırılabilir çoklu ışık noktaları, sabit alıcı düzlem ve görüş alanı. Yakın kızılötesi tepki dedektörü, senkronize tetikleme ve ayrılabilir yakın/uzak alan nokta görüntüleme
DİZİ·Ayrı nokta dizisi karşılaştırması
Ayrı ve numaralandırılabilir çoklu ışık noktaları, sabit alıcı düzlem ve görüş alanı
- A102Çok lazerli noktaya bağlı etki alanı adayı çıkarma
- A105Lazer noktası ikinci momenti ve ana eksen çapı
- A107Lazer nokta kalitesi ve kullanılabilirlik teşhisi
- A108Çoklu lazer nokta referans bitlerinin bire bir eşleştirilmesi
- A112Lazer noktası iki boyutlu tekrarlanabilirlik ve kapsama elipsi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Kısmen yeniden kullanılabilir
Kalibrasyon, senkronizasyon veya entegrasyon gerektirir
Işık noktası algılama ön ucu veya zamanlama istatistik modülü yeniden kullanılabilir ancak projenin yine de geometrik kalibrasyon, zaman senkronizasyonu, hareket telafisi veya ekipman sistemi entegrasyonu eklemesi gerekiyor.
Bu sahnedeki boşluklar:Nokta sırası numaralandırması, yerel ROI, çapraz konuşma ve tıkanıklık işleme gereklidir; A108 yalnızca aynı koordinat sistemindeki mesafeye göre eşleşir. Yüksek yoğunluklu diziler yeni örtüşen nokta ayrımı gerektirir. Işık noktalarının sayısı ve fiziksel emisyon birimlerinin sayısı bire bir karşılık gelmek zorunda değildir.
Rota düzeyindeki boşluklar:Nokta sırası numaralandırması, yerel ROI, karışma ve tıkanma işlemi gereklidir; A108 yalnızca aynı koordinat sisteminde mesafeye göre eşleşir
"Kısmen yeniden kullanılabilir" yalnızca ilgili geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresine ilişkin bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Bilinen kafes ve yapay kusur/örtüşme/karışıklık verilerini kullanarak nokta sayımlarını, eşleşme oranlarını ve uyumsuzlukları doğrulayın. Mikrograflar, bağımsız radyometreler ve tasarım dizileriyle çapraz kontrol yapın
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
Ophir geniş açılı ıraksak ışın
Uzak alan edinimi ve geniş açılı ışın için görüntüleme koşulları
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Düşük yoğunluklu emisyon noktası eksik aday taraması
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com