В этом направлении разбиваются и объясняются конкретные продукты, задачи измерений, входные данные для визуализации, маршруты алгоритмов, предлагаемые выходные данные и методы приемки, которые можно использовать для оценки образцов и состояний системы перед созданием корпоративных проектов.
Область применения:Микроскопические изображения и исследования частиц.
Включает измерение маршрутов:Положение светового пятна целевой поверхности, синхронизация и дрейф светового пятна, двумерная калибровка координат командной/целевой поверхности, миграция изображения точечных частиц, форма пятна и относительное распределение.
Конфокальный путь света · положение целевого пятна
Смещение световой точки сопряженной поверхности
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Световая листовая микроскопия · Синхронизация и дрейф светового пятна
Траектория центра падающего светового пятна
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Стол для микролазерной обработки · Двумерная калибровка координат командной/целевой поверхности
Микроскопические остатки координат XY
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Экспериментальное устройство с оптическим пинцетом · Миграция изображений точечных частиц
Траектории микросфер и недостающие кадры
Специальная разработка:Ядро измерения/управления должно быть дополнено и проверено согласно специальному утверждению проекта.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Платформа для наблюдения за микрожидкостными частицами · Миграция точечных изображений частиц
2D-положение частиц и количество кандидатов
Специальная разработка:Ядро измерения/управления должно быть дополнено и проверено согласно специальному утверждению проекта.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Осветительная головка лазерного микроскопа · Положение пятна на целевой поверхности
Разница центров до и после переключения объектива
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Платформа для проб с флуоресцентными точками · Миграция изображений точечных частиц
Центр точки и остаток позиционирования
Специальная разработка:Ядро измерения/управления должно быть дополнено и проверено согласно специальному утверждению проекта.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Зонд из микрофибры · Форма пятна и относительное распределение
Ближний центр поля и ширина главной оси
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Инструменты для исследования микроскопии и оптических пинцетов: 8 потенциальных сценариев применения алгоритмов лазерной точки и световой точки
Опишите объект задачи, исходное изображение или видео, целевые показатели, платформу устройства, интерфейс и пример ситуации.
Телефон: 13910119357