LSP242 · Микроскоп и оптический пинцет для исследования · Микроскопическая визуализация и исследование частиц
Частично многоразовый

Центральная стабильность падающего луча до формирования светового слоя

При взгляде на микроскоп светового листа в качестве маршрута наблюдения используются синхронизация и дрейф светового пятна, а на выходе планируется вывести центральную траекторию падающего светового пятна. Страница предназначена для оценки проекта и не означает, что разработка завершена или принята на объекте.

Краткое изложение решения по проекту

Продукт/Устройствосветовая листовая микроскопия
Измерить маршрутВРЕМЯ · Синхронизация и дрейф светового пятна
Оценка способностейЧастично многоразовый
Статус проверкиФактическая приемка машины/продукта по этому сценарию не проводилась.
Характер сцены:Аналогичные потенциальные сценарии применения лазерных пятен. Потенциальный сценарий применения еще не превратился в полноценную систему продуктов; фактическая приемка этого сценария в области машины/продукта не проводилась. Фактическое количество приемлемого продукта/домена продукта в статистике каталога равно 0.

Бизнес-задачи и предполагаемый результат

целевая аудитория
Световая листовая микроскопия: выбор времени и дрейф пятна
псевдовыход
Траектория центра падающего светового пятна
Применимые условия
Толщина светового листа не определяется напрямую из точки падения.
приоритет
Общее расширение. Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.

Ввод изображений и маршрутизация алгоритмов

Условия визуализации и устройства

Глобальный затвор или известное время считывания сохраняют временные метки и экспозицию, адаптированную к частоте движения. Микроскопы, реле отбора проб и камеры, адаптированные к длине волны

ВРЕМЯ · Синхронизация и дрейф светового пятна

Глобальный затвор или известное время считывания, сохраняет временные метки, экспозиция соответствует частоте движения

  • A22Фильтр Калмана
  • A25Оценка спектра мощности Уэлча
  • A72Фильтрация аномалий медианного абсолютного отклонения Хампеля
  • A101Адаптивный пороговый центр тяжести лазерной точки в оттенках серого
  • A107Диагностика качества и удобства использования лазерного пятна
  • A112Двумерная повторяемость лазерного пятна и эллипс покрытия

Существующие алгоритмические доказательства:А101–А112 – только полный точечный аналитический синтез и проверка контролируемой геометрии; см. laser_spot_benchmark.json

Текущие возможности и возможности, которые необходимо дополнить

Частично многоразовый

Требуется калибровка, синхронизация или интеграция.

Интерфейс обнаружения световых точек или модуль временной статистики можно использовать повторно, но в проект все равно необходимо добавить геометрическую калибровку, синхронизацию времени, компенсацию движения или интеграцию системы оборудования.

Пробелы в этой сцене:Требуется проверка частоты дискретизации/экспозиции, синхронизация времени и компенсация движения эталонной целевой камеры; не является заменой лазерных доплеровских виброметров. Толщина светового листа не определяется напрямую по точке падения. Позиционирование изображения частицы — это миграция алгоритма, и модель изображения должна быть повторно проверена.

Пробелы на уровне маршрута:Требуется проверка частоты дискретизации/экспозиции, синхронизация времени и компенсация движения эталонной целевой камеры; не является заменой лазерных доплеровских виброметров

«Частично повторное использование» описывает только относительный объем разработки и не означает обязательства по точности, темпу, стабильности или сроку поставки.

Методы проверки и предпосылки приемки

Проверьте наложение частот, фазу, дрейф и потерю кадров с помощью известного встряхивателя частоты или сравнения энкодера. Предметный столик для микросфер, микроскопическая линейка и независимая привязка для позиционирования.

Приемка предметовДоказательства, необходимые для подтверждения проектаТекущий статус
Входные данные и образцыИсходные кадры реального устройства, нормальные/ненормальные образцы, условия экспозиции и светового пути, группировка образцов и их отложение.Не предоставлено, ждём ввода проекта
Величина и ошибкаНезависимое эталонное значение, запись калибровки, статистический калибр ошибок и порог взаимного подтверждения.Не проверено
Исключения и границыОжидаемая обработка пропущенных обнаружений, ложных обнаружений, передержки, окклюзии, отражения, выхода за пределы поля зрения и нарушений связиБудет определено
Системная интеграцияИнтерфейс, синхронизация времени, платформа развертывания, темп, журнал, версия и непрерывная записьНе интегрировано

Источники доказательств и границы цитирования

Источник поддерживает принципы измерения или аналогичные приложения; комбинация модулей, устройство и метод приемки в этом сценарии являются инженерными разработками, и проверка продукта не завершена.

LS-S20 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Оригинальная бумага Центра радиальной симметрии

Субпиксельное позиционирование по центру приблизительно радиально-симметричных целей

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
LS-S21 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Исследование по позиционной калибровке камеры оптического пинцета

Ограниченное обнаружение положения частиц и влияние воздействия и отбора проб на калибровку

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
LS-S30 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Измерение малого луча Ophir

Оптические условия при измерениях малого луча в ближнем, дальнем поле и поле моды

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
Область использования источника:Публичная информация используется для поддержки принципа измерения или существования аналогичных приложений и не доказывает, что этот сценарий был разработан, развернут или принят Jishi Technology.
Консультация проекта

Отправьте образцы и состояние оборудования для уточнения объема разработки и поставки

Центральная стабильность падающего луча до формирования светового слоя

Опишите объект задачи, исходное изображение или видео, целевые показатели, платформу устройства, интерфейс и пример ситуации.

Телефон: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Заполненная информация будет использоваться только для оценки и связи по этому проекту. Пожалуйста, не предоставляйте несанкционированную личную информацию или конфиденциальные данные.