В этом направлении разбиваются и объясняются конкретные продукты, задачи измерений, входные данные для визуализации, маршруты алгоритмов, предлагаемые выходные данные и методы приемки, которые можно использовать для оценки образцов и состояний системы перед созданием корпоративных проектов.
Область применения:Полупроводниковые пластины и упаковка.
Включает измерение маршрутов:Отдельное сравнение массивов световых пятен, двумерная калибровка координат командной/целевой поверхности, форма и относительное распределение светового пятна, синхронизация и дрейф светового пятна.
Сравнение точечных матриц VCSEL с разделенным чипом
Точки разъема и места дефектов
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Пакетный модуль VCSEL · Двумерная калибровка координат команды/цели
Положение решетки и эталонный остаток
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Компонент VCSEL в дальней зоне · Форма пятна и относительное распределение
Ширина зоны и морфологическое распределение
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Сравнение массива линз VCSEL · сравнение точечных матриц
Список смещений регистрации и выбросов
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Импульсный модуль VCSEL · Синхронизация и дрейф пятна
Триггерные раунды и центральная дискретизация
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Модуль проекции точек ближнего инфракрасного диапазона · сравнение отдельных массивов световых точек
Изменение центра массива и расстояния между точками
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Тестовая плата драйвера VCSEL · Сравнение отдельных массивов световых пятен
Группа приводов соответствует видимой точке
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →Коллимационный пакет VCSEL · Форма пятна и относительное распределение
Расстояние между точками, ширина и статус слияния
Общие расширения:Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Просмотр входных данных, результатов, пробелов и методов проверки →VCSEL и эмиссионная матрица: 8 потенциальных сценариев применения алгоритмов лазерной точки и световой точки
Опишите объект задачи, исходное изображение или видео, целевые показатели, платформу устройства, интерфейс и пример ситуации.
Телефон: 13910119357