Измерения Ophir VCSEL
Категории измерений матрицы излучения VCSEL и морфологии луча
Дата проверки: 24 октября 2026 г.
Посмотреть исходную общедоступную информацию →LSP025 · VCSEL и эмиссионная матрица · Полупроводниковые пластины и упаковка
Частично многоразовый
Точка выброса низкой плотности, отсутствующая при проверке кандидатов
Для голых чипов VCSEL в качестве маршрута наблюдения используется сравнение массивов разделительных световых пятен, и планируется вывести количество отделяемых точек и мест дефектов. Страница предназначена для оценки проекта и не означает, что разработка завершена или принята на объекте.
Краткое изложение решения по проекту
Продукт/УстройствоVCSEL голый кристалл
Измерить маршрутМАССИВ·Отдельное сравнение точечных массивов
Оценка способностейЧастично многоразовый
Статус проверкиФактическая приемка машины/продукта по этому сценарию не проводилась.
Характер сцены:Аналогичные потенциальные сценарии применения лазерных пятен. Потенциальный сценарий применения еще не превратился в полноценную систему продуктов; фактическая приемка этого сценария в области машины/продукта не проводилась. Фактическое количество приемлемого продукта/домена продукта в статистике каталога равно 0.
Бизнес-задачи и предполагаемый результат
- целевая аудитория
- Кристалл VCSEL: сравнение массивов разделенных световых пятен
- псевдовыход
- Точки разъема и места дефектов
- Применимые условия
- Массивы высокой плотности требуют нового разделения перекрывающихся точек.
- приоритет
- Общее расширение. Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.
Ввод изображений и маршрутизация алгоритмов
Условия визуализации и устройства
Отдельные и пронумерованные несколько световых пятен, фиксированная плоскость приема и поле зрения. Детектор отклика ближнего инфракрасного диапазона, синхронизированный запуск и раздельная визуализация точек ближнего и дальнего поля
МАССИВ·Отдельное сравнение точечных массивов
Отдельные и пронумерованные несколько световых пятен, фиксированная приемная плоскость и поле зрения.
- A102Извлечение кандидатов в домены с использованием нескольких лазерных точек
- A105Второй момент лазерного пятна и диаметр главной оси
- A107Диагностика качества и удобства использования лазерного пятна
- A108Однозначное сопоставление опорных битов многолазерной точки
- A112Двумерная повторяемость лазерного пятна и эллипс покрытия
Существующие алгоритмические доказательства:А101–А112 – только полный точечный аналитический синтез и проверка контролируемой геометрии; см. laser_spot_benchmark.json
Текущие возможности и возможности, которые необходимо дополнить
Частично многоразовый
Требуется калибровка, синхронизация или интеграция.
Интерфейс обнаружения световых точек или модуль временной статистики можно использовать повторно, но в проект все равно необходимо добавить геометрическую калибровку, синхронизацию времени, компенсацию движения или интеграцию системы оборудования.
Пробелы в этой сцене:Требуется нумерация последовательности точек, локальная рентабельность инвестиций, обработка перекрестных помех и окклюзии; A108 соответствует только по расстоянию в той же системе координат. Массивы высокой плотности требуют нового разделения перекрывающихся точек. Количество световых точек и количество физических единиц излучения не обязательно должны совпадать один к одному.
Пробелы на уровне маршрута:Требуется нумерация последовательности точек, локальная рентабельность инвестиций, обработка перекрестных помех и окклюзии; A108 соответствует только по расстоянию в той же системе координат.
«Частично повторное использование» описывает только относительный объем разработки и не означает обязательства по точности, темпу, стабильности или сроку поставки.
Методы проверки и предпосылки приемки
Проверьте количество точек, коэффициенты совпадений и несоответствия, используя известную решетку и данные об искусственных дефектах/перекрытиях/скремблировании. Перекрестная проверка с помощью микрофотографий, независимых радиометров и расчетных матриц.
| Приемка предметов | Доказательства, необходимые для подтверждения проекта | Текущий статус |
|---|---|---|
| Входные данные и образцы | Исходные кадры реального устройства, нормальные/ненормальные образцы, условия экспозиции и светового пути, группировка образцов и их отложение. | Не предоставлено, ждём ввода проекта |
| Величина и ошибка | Независимое эталонное значение, запись калибровки, статистический калибр ошибок и порог взаимного подтверждения. | Не проверено |
| Исключения и границы | Ожидаемая обработка пропущенных обнаружений, ложных обнаружений, передержки, окклюзии, отражения, выхода за пределы поля зрения и нарушений связи | Будет определено |
| Системная интеграция | Интерфейс, синхронизация времени, платформа развертывания, темп, журнал, версия и непрерывная запись | Не интегрировано |
Источники доказательств и границы цитирования
Источник поддерживает принципы измерения или аналогичные приложения; комбинация модулей, устройство и метод приемки в этом сценарии являются инженерными разработками, и проверка продукта не завершена.
Широкоугольный расходящийся луч Ophir
Условия визуализации для сбора данных в дальней зоне и широкоугольного луча
Дата проверки: 24 октября 2026 г.
Посмотреть исходную общедоступную информацию →Область использования источника:Публичная информация используется для поддержки принципа измерения или существования аналогичных приложений и не доказывает, что этот сценарий был разработан, развернут или принят Jishi Technology.
Консультация проекта
xuzhiyang0928@gmail.com
Отправьте образцы и состояние оборудования для уточнения объема разработки и поставки
Точка выброса низкой плотности, отсутствующая при проверке кандидатов
Опишите объект задачи, исходное изображение или видео, целевые показатели, платформу устройства, интерфейс и пример ситуации.
Телефон: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com