Esta direção detalha e explica produtos específicos, tarefas de medição, entradas de imagem, rotas de algoritmos, saídas propostas e métodos de aceitação, que podem ser usados para avaliar amostras e condições do sistema antes do estabelecimento de projetos corporativos.
Escopo da indústria:Dispositivos estruturados de luz e difração.
Envolve medir rotas:Inversão de posição da ordem de difração, comparação de matriz de pontos de luz separados, calibração bidimensional de coordenadas de superfície de comando/alvo.
Rede de difração padrão·Inversão da posição da ordem de difração
Ângulo do ponto de difração e candidatos ao período
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Mesa giratória de grade · Inversão da posição da ordem de difração
Trajetória do ponto correspondente ao ângulo
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Instrumento de ensino de comprimento de onda do laser·Inversão de posição da ordem de difração
Candidatos de distância do ponto de difração e comprimento de onda
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Amostra periódica de microestrutura · Inversão de posição da ordem de difração
Mudanças no espaçamento entre notas
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Bancada de teste de dispositivos acústico-ópticos·Comparação de matriz de pontos de luz separados
Trajetória de ponto de primeiro nível e energia relativa
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Divisor de feixe de difração multiordem · comparação de matriz de pontos de luz separados
Desvio de ordem positivo e negativo
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Peça de teste de matriz de microfuros · Calibração bidimensional de coordenadas de superfície de comando/alvo
Ângulo da matriz e resíduo de alinhamento
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Componente de projeção de difração·Comparação de matriz de pontos de luz separados
Distância do ponto e curva de temperatura
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Difração de grade e estrutura periódica: 8 cenários potenciais de aplicação de algoritmos de ponto laser e ponto de luz
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357