LSP276 · Difração de grade e estrutura periódica · Luz estruturada e dispositivos difrativos
Precisa adicionar novo núcleo

Estudo sobre a mudança na distância do ponto de difração após o estiramento da amostra

Diante da amostra de microestrutura periódica, a inversão da posição da ordem de difração é usada como rota de observação, e as alterações no espaçamento da ordem devem ser geradas. A página é para avaliação do projeto e não significa que o empreendimento foi concluído ou aceito no local.

Resumo do julgamento do projeto

Produto/DispositivoPeça de teste periódico de microestrutura
Medir rotaDIFFRACT·Inversão da posição da ordem de difração
Classificação de habilidadePrecisa adicionar novo núcleo
Status de verificaçãoA aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada
Natureza da cena:Cenários de aplicação potenciais semelhantes para pontos de laser. O cenário de aplicação potencial ainda não foi desenvolvido num sistema de produto completo; a aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada. A quantidade real de aceitação do domínio do produto/produto nas estatísticas do catálogo é 0.

Tarefas de negócios e resultados pretendidos

público-alvo
Amostra periódica de microestrutura: inversão de posição da ordem de difração
pseudo saída
Mudanças no espaçamento entre notas
Condições aplicáveis
A inversão de deformação requer compensação de período e atitude
prioridade
Desenvolvimento especial. O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial

Entrada de imagem e roteamento de algoritmo

Condições de imagem e dispositivo

Um dispositivo de campo distante no qual um dos comprimentos de onda ou períodos, a ordem de difração e a direção de incidência são conhecidos. Luz monocromática, imagem de superfície de campo distante/Fourier e referência de ângulo de incidente

DIFFRACT·Inversão da posição da ordem de difração

Um dispositivo de campo distante no qual um dos comprimentos de onda ou períodos, a ordem de difração e a direção de incidência são conhecidos

  • A102Extração de candidato a domínio conectado por ponto multilaser
  • A103Centro do ponto subpixel da superfície quadrática logarítmica
  • A108Correspondência um-para-um de bits de referência de ponto multilaser
  • A111Conversão de pixel de ponto de laser para ângulo de visão da câmera

Evidência algorítmica existente:A101–A112 apenas ponto de síntese analítica completo e verificação de geometria controlada; veja laser_spot_benchmark.json

Capacidades atuais e capacidades a serem complementadas

Precisa adicionar novo núcleo

Precisa adicionar computação central

A extração de pontos de luz só pode ser usada como front-end de observação, e capacidades essenciais como reconstrução tridimensional, controle de circuito fechado, frente de onda ou inversão de quantidade física precisam ser desenvolvidas e verificadas separadamente.

Lacunas neste cenário:É necessário adicionar equação de rede/modelo de difração, identificação de ordem e compensação de desvio de temperatura do comprimento de onda. A inversão de tensão requer compensação de período e atitude. Apenas o front-end da posição secundária está disponível e o núcleo de inversão física precisa ser desenvolvido.

Lacunas no nível da rota:Necessidade de adicionar equação de grade/modelo de difração, identificação de pedido e compensação de desvio de temperatura do comprimento de onda

"Novos núcleos necessários" descreve apenas o volume relativo de desenvolvimento e não constitui um compromisso com precisão, ritmo, estabilidade ou prazo de entrega.

Métodos de verificação e pré-requisitos de aceitação

Teste cruzado com grade padrão e referência independente de comprimento de onda/ângulo para solucionar ambiguidades de ordem. Grade padrão, medidor de comprimento de onda e teste cruzado de mesa angular

Itens de aceitaçãoEvidências necessárias para confirmação do projetoEstado atual
Entradas e amostrasQuadros originais do dispositivo real, amostras normais/anormais, condições de exposição e caminho da luz, agrupamento de amostras e reservaNão fornecido, aguardando entrada do projeto
Magnitude e ErroValor de referência independente, registro de calibração, calibre estatístico de erro e limite de confirmação mútuaNão verificado
Exceções e limitesTratamento antecipado de detecções perdidas, falsas detecções, superexposição, oclusão, reflexão, fora de visão e anormalidades de comunicaçãoA definir
Integração de sistemaInterface, sincronização de horário, plataforma de implantação, ritmo, log, versão e registro de execução contínuaNão integrado

Fontes de evidências e limites de citação

A fonte suporta princípios de medição ou aplicações similares; a combinação do módulo, dispositivo e método de aceitação neste cenário são derivações de engenharia e a verificação do produto não foi concluída.

LS-S16 · Fábrica original/instituição de pesquisa científica/artigo original

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Rede laser, ordens de difração, espaçamento de pontos e configuração óptica

Data de verificação: 24/10/2026

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LS-S23 · Fábrica original/instituição de pesquisa científica/artigo original

Princípio de difração de rede de Newport

Relação entre ordem de difração, ângulo, comprimento de onda e período da rede

Data de verificação: 24/10/2026

Ver informações públicas originais →
Escopo de uso da fonte:A informação pública é utilizada para apoiar o princípio de medição ou a existência de aplicações semelhantes e não prova que este cenário tenha sido desenvolvido, implementado ou aceite pela Jishi Technology.
Consulta de projeto

Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega

Estudo sobre a mudança na distância do ponto de difração após o estiramento da amostra

Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.

Telefone: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

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