Esta direção detalha e explica produtos específicos, tarefas de medição, entradas de imagem, rotas de algoritmos, saídas propostas e métodos de aceitação, que podem ser usados para avaliar amostras e condições do sistema antes do estabelecimento de projetos corporativos.
Escopo da indústria:Dispositivos estruturados de luz e difração.
Envolve medir rotas:Comparação separada da matriz de pontos, calibração bidimensional de coordenadas de superfície de comando/alvo, posicionamento tridimensional da matriz de pontos, formato do ponto e distribuição relativa, inversão de posição da ordem de difração.
Divisor de feixe DOE · comparação de matriz de pontos de luz separados
Correspondência de pontos de design e pontos de luz extras
Priorize a verificação:Já existe uma interface de extração e correspondência multiponto. Selecione a rede de separação primeiro.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Gerador de rede bidimensional · comparação de matriz de pontos de luz separados
Distância linha-coluna e resíduos locais
Priorize a verificação:A rede planar fixa é adequada para estabelecer comparações geométricas revisáveis
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Módulo de divisão de feixe DOE · comparação de matriz de pontos de luz separados
Proporção integral da escala de cinza ponto a ponto
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Projetor de ponto aleatório · Comando bidimensional/calibração de coordenadas de destino
Resíduos de pontos do mapa de referência
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Módulo estruturado de profundidade de luz · Posicionamento tridimensional de matriz de pontos
Correspondência de pontos e máscara de pontos efetiva
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Óptica multifoco · Formato do ponto e distribuição relativa
Centro e diâmetro de cada plano
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Pacote DOE · Inversão da posição da ordem de difração
Relação entre ângulo de ordem e comprimento de onda
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Tubo de projeção de matriz de pontos · Comando bidimensional/calibração de coordenadas de destino
Parâmetros de mapeamento bidimensional e erros de margem
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Projetores DOE e de ponto: 8 cenários potenciais de aplicação de algoritmos de ponto laser e ponto de luz
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357