Esta direção detalha e explica produtos específicos, tarefas de medição, entradas de imagem, rotas de algoritmos, saídas propostas e métodos de aceitação, que podem ser usados para avaliar amostras e condições do sistema antes do estabelecimento de projetos corporativos.
Escopo da indústria:Wafers e embalagens de semicondutores.
Envolve medir rotas:Comparação separada de matriz de pontos de luz, calibração bidimensional de coordenadas de superfície de comando/alvo, formato e distribuição relativa do ponto de luz, temporização e desvio do ponto de luz.
Comparação de array spot separado com chip simples VCSEL
Pontos destacáveis e locais de defeitos
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Módulo de pacote VCSEL · Calibração bidimensional de coordenadas de comando/alvo
Pose de rede e resíduo de referência
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Componente de campo distante VCSEL · Formato do ponto e distribuição relativa
Largura da zona e distribuição morfológica
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Comparação entre matriz de lentes VCSEL e matriz de pontos separados
Lista de compensações de registro e outliers
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Módulo Pulse VCSEL · Temporização pontual e desvio
Rodadas de gatilho e discretização central
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Módulo de projeção de ponto infravermelho próximo · comparação de matriz de pontos de luz separados
Mudanças no centro da matriz e no espaçamento dos pontos
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Placa de teste do driver VCSEL·Comparação separada de matrizes de pontos de luz
O grupo de acionamento corresponde ao ponto visível
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Pacote de colimação VCSEL · Formato do ponto e distribuição relativa
Espaçamento de pontos, largura e status de mesclagem
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →VCSEL e matriz de emissão: 8 cenários potenciais de aplicação de algoritmos de ponto laser e ponto de luz
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357