Medições Ophir VCSEL
Categorias de medição de matriz de emissão VCSEL e morfologia de feixe
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →LSP028 · VCSEL e matriz de emissão · Wafer semicondutor e embalagem
Parcialmente reutilizável
Verificação de candidato de registro de microlentes e matrizes emissivas
De frente para o conjunto de lentes VCSEL, usando a comparação do conjunto de pontos de luz de separação como rota de observação, planeja-se gerar uma lista de deslocamentos de registro e pontos anormais. A página é para avaliação do projeto e não significa que o empreendimento foi concluído ou aceito no local.
Resumo do julgamento do projeto
Produto/DispositivoConjunto de lentes VCSEL
Medir rotaARRAY·Comparação de matriz pontual separada
Classificação de habilidadeParcialmente reutilizável
Status de verificaçãoA aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada
Natureza da cena:Cenários de aplicação potenciais semelhantes para pontos de laser. O cenário de aplicação potencial ainda não foi desenvolvido num sistema de produto completo; a aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada. A quantidade real de aceitação do domínio do produto/produto nas estatísticas do catálogo é 0.
Tarefas de negócios e resultados pretendidos
- público-alvo
- Matriz de lentes VCSEL: comparação da matriz de pontos de luz de separação
- pseudo saída
- Lista de compensações de registro e outliers
- Condições aplicáveis
- Precisa saber o layout e a ampliação do relé
- prioridade
- Extensão geral. A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Entrada de imagem e roteamento de algoritmo
Condições de imagem e dispositivo
Vários pontos de luz separados e numerados, plano de recepção fixo e campo de visão. Detector de resposta por infravermelho próximo, disparo sincronizado e imagem de ponto de campo próximo/distante separável
ARRAY·Comparação de matriz pontual separada
Vários pontos de luz separados e numeráveis, plano de recepção fixo e campo de visão
- A102Extração de candidato a domínio conectado por ponto multilaser
- A105Segundo momento do ponto laser e diâmetro do eixo principal
- A107Diagnóstico de qualidade e usabilidade do ponto laser
- A108Correspondência um-para-um de bits de referência de ponto multilaser
- A112Repetibilidade bidimensional do ponto laser e elipse de cobertura
Evidência algorítmica existente:A101–A112 apenas ponto de síntese analítica completo e verificação de geometria controlada; veja laser_spot_benchmark.json
Capacidades atuais e capacidades a serem complementadas
Parcialmente reutilizável
Requer calibração, sincronização ou integração
O front-end de detecção de ponto de luz ou o módulo de estatísticas de temporização podem ser reutilizados, mas o projeto ainda precisa adicionar calibração geométrica, sincronização de tempo, compensação de movimento ou integração de sistemas de equipamentos.
Lacunas neste cenário:São necessários numeração de sequência de pontos, ROI local, crosstalk e processamento de oclusão; A108 corresponde apenas por distância no mesmo sistema de coordenadas. O layout e a ampliação do relé precisam ser conhecidos. O número de pontos de luz e o número de unidades físicas de emissão não precisam corresponder um a um.
Lacunas no nível da rota:São necessários numeração de sequência de pontos, ROI local, crosstalk e processamento de oclusão; A108 corresponde apenas por distância no mesmo sistema de coordenadas
"Parcialmente reutilizável" descreve apenas o volume relativo de desenvolvimento e não constitui um compromisso com precisão, ritmo, estabilidade ou prazo de entrega.
Métodos de verificação e pré-requisitos de aceitação
Verifique contagens de pontos, taxas de correspondência e incompatibilidades usando rede conhecida e dados artificiais de defeitos/sobreposição/embaralhamento. Verificação cruzada com micrografias, radiômetros independentes e matrizes de projeto
| Itens de aceitação | Evidências necessárias para confirmação do projeto | Estado atual |
|---|---|---|
| Entradas e amostras | Quadros originais do dispositivo real, amostras normais/anormais, condições de exposição e caminho da luz, agrupamento de amostras e reserva | Não fornecido, aguardando entrada do projeto |
| Magnitude e Erro | Valor de referência independente, registro de calibração, calibre estatístico de erro e limite de confirmação mútua | Não verificado |
| Exceções e limites | Tratamento antecipado de detecções perdidas, falsas detecções, superexposição, oclusão, reflexão, fora de visão e anormalidades de comunicação | A definir |
| Integração de sistema | Interface, sincronização de horário, plataforma de implantação, ritmo, log, versão e registro de execução contínua | Não integrado |
Fontes de evidências e limites de citação
A fonte suporta princípios de medição ou aplicações similares; a combinação do módulo, dispositivo e método de aceitação neste cenário são derivações de engenharia e a verificação do produto não foi concluída.
Feixe divergente de grande angular Ophir
Condições de imagem para aquisição de campo distante e feixe grande angular
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Escopo de uso da fonte:A informação pública é utilizada para apoiar o princípio de medição ou a existência de aplicações semelhantes e não prova que este cenário tenha sido desenvolvido, implementado ou aceite pela Jishi Technology.
Consulta de projeto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega
Verificação de candidato de registro de microlentes e matrizes emissivas
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com