Ten kierunek rozkłada i wyjaśnia konkretne produkty, zadania pomiarowe, dane wejściowe do obrazowania, trasy algorytmów, proponowane wyniki i metody akceptacji, które można wykorzystać do oceny próbek i warunków systemowych przed ustanowieniem projektów korporacyjnych.
Zakres branży:Urządzenia do światła strukturalnego i dyfrakcyjnego.
Obejmuje trasy pomiarowe:Odwrócenie kolejności dyfrakcji, porównanie układu oddzielnych plamek świetlnych, dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych powierzchni docelowej/polecenie.
Standardowa siatka dyfrakcyjna. Odwrócenie położenia rzędu dyfrakcyjnego
Kandydaci na kąt i okres punktu dyfrakcyjnego
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Obrotnica kraty·Odwrócenie kolejności dyfrakcji
Kąt odpowiadający trajektorii punktu
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Przyrząd do nauczania długości fali lasera. Odwrócenie położenia rzędu dyfrakcji
Kandydaci na odległość punktu dyfrakcyjnego i długość fali
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Okresowa próbka mikrostruktury. Odwrócenie położenia rzędu dyfrakcyjnego
Zmiany odstępów między stopniami
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Stanowisko do testowania urządzeń akustooptycznych. Porównanie matrycy oddzielnych punktów świetlnych
Trajektoria punktu pierwszego poziomu i energia względna
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Rozdzielacz wiązki dyfrakcyjnej wielorzędowego · Porównanie układu oddzielnych plamek świetlnych
Odchylenie kolejności dodatniej i ujemnej
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Element testowy z mikrootworami · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych powierzchni docelowej
Kąt szyku i reszta wyrównania
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Element projekcji dyfrakcyjnej. Porównanie układu oddzielnych plamek świetlnych
Odległość punktowa i krzywa temperatury
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Dyfrakcja siatkowa i struktura okresowa: 8 potencjalnych scenariuszy zastosowań algorytmów punktu laserowego i punktu świetlnego
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357