Ten kierunek rozkłada i wyjaśnia konkretne produkty, zadania pomiarowe, dane wejściowe do obrazowania, trasy algorytmów, proponowane wyniki i metody akceptacji, które można wykorzystać do oceny próbek i warunków systemowych przed ustanowieniem projektów korporacyjnych.
Zakres branży:MEMS i urządzenia mikroelektromechaniczne.
Obejmuje trasy pomiarowe:Kąt dźwigni optycznej odbicia, dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych powierzchni sterującej/docelowej, mechaniczna inwersja dźwigni optycznej, trójkątne przemieszczenie lasera punktowego, kształt plamki i rozkład względny.
Odbłyśnik MEMS · Odblaskowy kąt dźwigni optycznej
Kandydaci na napięcie i kąt odbicia
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Lustro skanujące MEMS · Kalibracja poleceń 2D/współrzędnych celu
Trajektoria poleceń i pozostałości punktowe
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Próbka belki mikrowspornikowej · Inwersja mechanizmu dźwigni optycznej
Kąt końcowy a krzywa obciążenia
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Mikromembrana · Inwersja mechanizmu dźwigni optycznej
Ciśnienie odpowiada przesunięciu punktu odbicia
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Próbka mikroprzekaźnika · Laser punktowy, trójkątne przemieszczenie
Punkt końcowy akcji i możliwość zwrotu
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Mikroplatforma piezoelektryczna · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Mapowanie 2D i różnica w transporcie wstecznym
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Wiązka mikroskręcona · Inwersja mechanizmu dźwigni optycznej
Kąt skrętu i pętla ładująca
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Siłownik mikrosoczewkowy · Kształt plamki i rozkład względny
Ilość napędu i kształt plamki
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →MEMS i urządzenia z belką wspornikową: 8 potencjalnych scenariuszy zastosowań algorytmów punktów laserowych i punktów świetlnych
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357