Ten kierunek rozkłada i wyjaśnia konkretne produkty, zadania pomiarowe, dane wejściowe do obrazowania, trasy algorytmów, proponowane wyniki i metody akceptacji, które można wykorzystać do oceny próbek i warunków systemowych przed ustanowieniem projektów korporacyjnych.
Zakres branży:Urządzenia do światła strukturalnego i dyfrakcyjnego.
Obejmuje trasy pomiarowe:Oddzielne porównanie układu plamek, dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych powierzchni sterującej/docelowej, trójwymiarowe pozycjonowanie układu plamek, kształt plamki i rozkład względny, odwrócenie położenia rzędu dyfrakcyjnego.
Rozdzielacz wiązki DOE · Porównanie matrycy oddzielnych punktów świetlnych
Dopasowanie punktów projektowych i dodatkowe punkty świetlne
Nadaj priorytet weryfikacji:Istnieje już wielopunktowy interfejs ekstrakcji i dopasowywania. Najpierw wybierz siatkę separacji.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Porównanie dwuwymiarowego generatora sieci z oddzielnymi punktami świetlnymi
Odległość wiersz-kolumna i reszty lokalne
Nadaj priorytet weryfikacji:Stała siatka planarna nadaje się do ustalania możliwych do sprawdzenia porównań geometrycznych
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Moduł podziału wiązki DOE · Porównanie matrycy oddzielnych punktów świetlnych
Współczynnik całkowania skali szarości punkt po punkcie
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Projektor losowych punktów · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Reszty punktów na mapie referencyjnej
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Moduł głębi światła strukturalnego · Trójwymiarowe pozycjonowanie z matrycą punktową
Zgodność punktów i efektywna maska punktów
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Optyka wieloogniskowa · Kształt plamki i rozkład względny
Środek i średnica każdej płaszczyzny
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Pakiet DOE·Inwersja położenia porządku dyfrakcyjnego
Zależność między kątem rzędu a długością fali
Rozwój specjalny:Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Tuba projekcyjna z matrycą punktową · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Parametry mapowania dwuwymiarowego i błędy marginesów
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Projektory DOE i punkty: 8 potencjalnych scenariuszy zastosowań algorytmów punktów laserowych i punktów świetlnych
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357