LSP244 · Przyrządy badawcze mikroskopowe i pęsety optyczne · Obrazowanie mikroskopowe i badania cząstek
Trzeba dodać nowy rdzeńMigracja algorytmów · Zastosowania produktów innych niż laserowe

Przechwytywanie położenia 2D i taktowania przedniego końca mikrosfer

Stojąc naprzeciwko eksperymentalnego urządzenia z pęsetą optyczną, wykorzystującego punktową migrację obrazowania cząstek jako trasę obserwacji, planuje się wygenerowanie trajektorii mikrosfer i brakujących klatek. Strona służy do oceny projektu i nie oznacza, że ​​prace rozwojowe zostały ukończone lub zaakceptowane na miejscu.

Podsumowanie oceny projektu

Produkt/urządzenieEksperymentalne urządzenie z pęsetą optyczną
Zmierz trasęCZĄSTECZKI · Punktowa migracja obrazowania cząstek
Ocena umiejętnościTrzeba dodać nowy rdzeń
Stan weryfikacjiRzeczywista akceptacja domeny maszyny/produktu dla tego scenariusza nie została przeprowadzona
Instrukcje migracji:Migracji algorytmu pozycjonowania obrazów cząstek/punktów świetlnych nie należy wyrażać jako sprawdzonego zastosowania produktu laserowego. Potencjalny scenariusz zastosowania nie został jeszcze przekształcony w kompletny system produktu; faktyczna akceptacja tego scenariusza w domenie maszyny/produktu nie została przeprowadzona. Rzeczywista ilość akceptacji produktu/domeny produktu w statystykach katalogu wynosi 0.

Zadania biznesowe i zamierzony wynik

grupa docelowa
Eksperymentalne urządzenie z pęsetą optyczną: punktowa migracja obrazowania cząstek
pseudowyjście
Trajektorie mikrosfer i brakujące ramki
Obowiązujące warunki
Sztywność pułapki wymaga kompensacji ekspozycji i kalibracji dynamicznej.
priorytet
Specjalny rozwój. Rdzeń pomiarowo-kontrolny wymaga uzupełnienia i weryfikacji zgodnie ze specjalną aprobatą projektu

Obrazowanie wejścia i routing algorytmu

Warunki obrazowania i urządzenia

Obrazy cząstek można rozdzielić pod oświetleniem laserowym, można też przeprowadzić kalibrację mikroskopowej linijki, ekspozycji i pobierania próbek. Mikroskopy, próbkowanie przekaźnikowe i kamery przystosowane do długości fali

CZĄSTECZKI · Punktowa migracja obrazowania cząstek

Obrazy cząstek można rozdzielić pod wpływem oświetlenia laserowego, mikroskopowej linijki, ekspozycji i kalibracji próbkowania

  • A22Filtr Kalmana
  • A25Estymacja widma mocy Welcha
  • A102Ekstrakcja kandydatów na domeny za pomocą wielu laserów punktowych
  • A104Centrum plamki świetlnej o symetrii promieniowej gradientu
  • A108Dopasowanie jeden do jednego wielolaserowych bitów referencyjnych

Istniejące dowody algorytmiczne:A101–A112 tylko punkt pełnej syntezy analitycznej i weryfikacja kontrolowanej geometrii; zobacz laser_spot_benchmark.json

Aktualne możliwości i możliwości do uzupełnienia

Trzeba dodać nowy rdzeń

Trzeba dodać rdzeń obliczeniowy

Ekstrakcję punktów świetlnych można wykorzystać jedynie jako element obserwacyjny, a podstawowe możliwości, takie jak rekonstrukcja trójwymiarowa, sterowanie w pętli zamkniętej, czoło fali lub inwersja wielkości fizycznych, należy opracować i zweryfikować osobno.

Luki w tym scenariuszu:Należy dodać korelację/dynamikę/kompensację rozmycia cząstek; obraz cząstek jest migrowany przez algorytm pozycjonowania i nie może być używany jako środek oryginalnej wiązki laserowej. Sztywność pułapki wymaga kompensacji ekspozycji i kalibracji dynamicznej. Pozycjonowanie obrazu cząstek to migracja algorytmu i model obrazu wymaga ponownej weryfikacji.

Luki na poziomie trasy:Należy dodać korelację/dynamikę/kompensację rozmycia cząstek; obraz cząstek jest migrowany przez algorytm pozycjonowania i nie może być używany jako środek oryginalnej wiązki laserowej

„Wymagane nowe rdzenie” opisuje jedynie względny zakres prac rozwojowych i nie stanowi zobowiązania co do dokładności, tempa, stabilności ani czasu dostawy.

Metody weryfikacji i warunki akceptacji

Mikrosfery są napędzane przez stopień przemieszczania i testowane z niezależnym oznaczeniem trajektorii, a kalibracja płynu/siły odniesienia służy do inwersji właściwości fizycznych. Stolik mikrosferyczny, mikroskopowa linijka i niezależne odniesienie do pozycjonowania

Przedmioty akceptacjiDowód wymagany do potwierdzenia projektuAktualny stan
Wejścia i próbkiOryginalne klatki prawdziwego urządzenia, próbki normalne/nienormalne, warunki ekspozycji i ścieżki światła, grupowanie próbek i odkładanie na bokNie podano. Czekam na dane wejściowe projektu
Wielkość i błądNiezależna wartość odniesienia, zapis kalibracji, kaliber statystyczny błędu i próg wzajemnego potwierdzeniaNie zweryfikowano
Wyjątki i granicePrzewidywane postępowanie w przypadku pominiętych wykryć, fałszywych wykryć, prześwietlenia, okluzji, odbić, utraty pola widzenia i nieprawidłowości w komunikacjiDo zdefiniowania
Integracja systemuInterfejs, synchronizacja czasu, platforma wdrożeniowa, tempo, dziennik, wersja i ciągły zapis działaniaNiezintegrowany

Źródła dowodów i granice cytowań

Źródło obsługuje zasady pomiaru lub podobne zastosowania; kombinacja modułów, urządzenie i metoda akceptacji w tym scenariuszu są wyprowadzeniem inżynieryjnym, a weryfikacja produktu nie została zakończona.

LS-S20 · Oryginalna fabryka/instytucja naukowo-badawcza/oryginalny papier

Oryginalny papier z promieniowym środkiem symetrii

Subpikselowe środkowe pozycjonowanie celów w przybliżeniu promieniowo symetrycznych

Data weryfikacji: 2026-10-24

Zobacz oryginalne informacje publiczne →
LS-S21 · Oryginalna fabryka/instytucja naukowo-badawcza/oryginalny papier

Badania nad kalibracją położenia aparatu pęsety optycznej

Ograniczone wykrywanie położenia cząstek oraz wpływ narażenia i pobierania próbek na kalibrację

Data weryfikacji: 2026-10-24

Zobacz oryginalne informacje publiczne →
LS-S30 · Oryginalna fabryka/instytucja naukowo-badawcza/oryginalny papier

Pomiar małą wiązką Ophir

Warunki optyczne w pomiarach małej wiązki w polu bliskim, w polu dalekim i w polu modowym

Data weryfikacji: 2026-10-24

Zobacz oryginalne informacje publiczne →
Zakres wykorzystania źródła:Informacje publiczne służą do wspierania zasady pomiaru lub istnienia podobnych aplikacji i nie dowodzą, że ten scenariusz został opracowany, wdrożony lub zaakceptowany przez Jishi Technology.
Konsultacje projektu

Prześlij próbki i warunki wyposażenia, aby wyjaśnić zakres rozwoju i dostawy

Przechwytywanie położenia 2D i taktowania przedniego końca mikrosfer

Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.

Telefon: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Wypełnione informacje zostaną wykorzystane wyłącznie do oceny i kontaktu w sprawie tego projektu. Proszę nie przesyłać nieautoryzowanych danych osobowych ani danych wrażliwych.