Oryginalny papier z promieniowym środkiem symetrii
Subpikselowe środkowe pozycjonowanie celów w przybliżeniu promieniowo symetrycznych
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →LSP243 · Przyrządy badawcze mikroskopowe i pęsety optyczne · Obrazowanie mikroskopowe i badania cząstek
Częściowo nadaje się do ponownego użycia
Dwuwymiarowa rejestracja mikroskopowego pola widzenia i plamki lasera
W obliczu platformy przetwarzania mikrolasera dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych powierzchni dowodzenia/powierzchni celu jest wykorzystywana jako trasa obserwacji i planuje się wyprowadzenie błędu resztkowego mikroskopowej współrzędnej XY. Strona służy do oceny projektu i nie oznacza, że prace rozwojowe zostały ukończone lub zaakceptowane na miejscu.
Podsumowanie oceny projektu
Produkt/urządzenieStół do obróbki mikrolaserowej
Zmierz trasęCAL · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Ocena umiejętnościCzęściowo nadaje się do ponownego użycia
Stan weryfikacjiRzeczywista akceptacja domeny maszyny/produktu dla tego scenariusza nie została przeprowadzona
Charakter sceny:Podobne potencjalne scenariusze zastosowań plam laserowych. Potencjalny scenariusz zastosowania nie został jeszcze przekształcony w kompletny system produktu; faktyczna akceptacja tego scenariusza w domenie maszyny/produktu nie została przeprowadzona. Rzeczywista ilość akceptacji produktu/domeny produktu w statystykach katalogu wynosi 0.
Zadania biznesowe i zamierzony wynik
- grupa docelowa
- Tabela przetwarzania mikrolasera: dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych polecenia/powierzchni docelowej
- pseudowyjście
- Mikroskopijne pozostałości współrzędnych XY
- Obowiązujące warunki
- Należy naprawić powiększenie obiektywu i szkiełko nakrywkowe
- priorytet
- Rozszerzenie ogólne. Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Obrazowanie wejścia i routing algorytmu
Warunki obrazowania i urządzenia
Przykryj skalibrowane odpowiednie punkty i niezależne punkty tyczenia dwuwymiarowego pola widzenia oraz ustal ścieżkę optyczną i płaszczyznę roboczą. Mikroskopy, próbkowanie przekaźnikowe i kamery przystosowane do długości fali
CAL · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Kalibracja odpowiednich punktów i niezależnych punktów tyczonych obejmujących dwuwymiarowe pole widzenia, stałą ścieżkę optyczną i płaszczyznę roboczą
- A101Adaptacyjny próg punktowy punktu laserowego w skali szarości
- A107Diagnostyka jakości i użyteczności plamki laserowej
- A109Dwuwymiarowa kalibracja wielomianu współrzędnych fizycznych pikseli
- A110Mapowanie kalibracji punktu laserowego i propagacja kowariancji
- A112Dwuwymiarowa powtarzalność plamki laserowej i elipsa pokrycia
Istniejące dowody algorytmiczne:A101–A112 tylko punkt pełnej syntezy analitycznej i weryfikacja kontrolowanej geometrii; zobacz laser_spot_benchmark.json
Aktualne możliwości i możliwości do uzupełnienia
Częściowo nadaje się do ponownego użycia
Wymaga kalibracji, synchronizacji lub integracji
Można ponownie wykorzystać moduł front-end do wykrywania punktów świetlnych lub moduł statystyk czasowych, ale projekt nadal wymaga dodania kalibracji geometrycznej, synchronizacji czasu, kompensacji ruchu lub integracji systemu sprzętu.
Luki w tym scenariuszu:Wymagane jest wykonanie kalibracji, zdefiniowanie współrzędnych i weryfikacja; dwuwymiarowe mapowanie empiryczne nie reprezentuje żadnej kalibracji trójwymiarowej ani kalibracji robota. Należy naprawić powiększenie obiektywu i szkiełko nakrywkowe. Pozycjonowanie obrazu cząstek to migracja algorytmu i model obrazu wymaga ponownej weryfikacji.
Luki na poziomie trasy:Wymagane jest wykonanie kalibracji, zdefiniowanie współrzędnych i weryfikacja; dwuwymiarowe mapowanie empiryczne nie reprezentuje żadnej kalibracji trójwymiarowej ani kalibracji robota
„Częściowo nadające się do ponownego wykorzystania” opisuje jedynie względną wielkość opracowania i nie stanowi zobowiązania co do dokładności, tempa, stabilności ani czasu dostawy.
Metody weryfikacji i warunki akceptacji
Oddzielne punkty kalibracji i punkty tyczenia do sprawdzania krawędzi, ruchu w przód i w tył, temperatury i powtarzających się błędów mocowania. Stolik mikrosferyczny, mikroskopowa linijka i niezależne odniesienie do pozycjonowania
| Przedmioty akceptacji | Dowód wymagany do potwierdzenia projektu | Aktualny stan |
|---|---|---|
| Wejścia i próbki | Oryginalne klatki prawdziwego urządzenia, próbki normalne/nienormalne, warunki ekspozycji i ścieżki światła, grupowanie próbek i odkładanie na bok | Nie podano. Czekam na dane wejściowe projektu |
| Wielkość i błąd | Niezależna wartość odniesienia, zapis kalibracji, kaliber statystyczny błędu i próg wzajemnego potwierdzenia | Nie zweryfikowano |
| Wyjątki i granice | Przewidywane postępowanie w przypadku pominiętych wykryć, fałszywych wykryć, prześwietlenia, okluzji, odbić, utraty pola widzenia i nieprawidłowości w komunikacji | Do zdefiniowania |
| Integracja systemu | Interfejs, synchronizacja czasu, platforma wdrożeniowa, tempo, dziennik, wersja i ciągły zapis działania | Niezintegrowany |
Źródła dowodów i granice cytowań
Źródło obsługuje zasady pomiaru lub podobne zastosowania; kombinacja modułów, urządzenie i metoda akceptacji w tym scenariuszu są wyprowadzeniem inżynieryjnym, a weryfikacja produktu nie została zakończona.
Badania nad kalibracją położenia aparatu pęsety optycznej
Ograniczone wykrywanie położenia cząstek oraz wpływ narażenia i pobierania próbek na kalibrację
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →Pomiar małą wiązką Ophir
Warunki optyczne w pomiarach małej wiązki w polu bliskim, w polu dalekim i w polu modowym
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →Zakres wykorzystania źródła:Informacje publiczne służą do wspierania zasady pomiaru lub istnienia podobnych aplikacji i nie dowodzą, że ten scenariusz został opracowany, wdrożony lub zaakceptowany przez Jishi Technology.
Konsultacje projektu
xuzhiyang0928@gmail.com
Prześlij próbki i warunki wyposażenia, aby wyjaśnić zakres rozwoju i dostawy
Dwuwymiarowa rejestracja mikroskopowego pola widzenia i plamki lasera
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com