방사형 대칭 센터 원본 용지
대략 방사상 대칭 대상의 하위 픽셀 중심 위치 지정
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →LSP246 · 현미경 및 광학 핀셋 연구 장비 · 현미경 이미징 및 입자 연구
재사용 가능한 모듈
대물렌즈 교체 후 빔 포인트 복귀 확인
레이저 현미경 조명 헤드를 향하고 대상 표면의 광점 위치를 관찰 경로로 삼아 대물 렌즈 전환 전후의 중심 차이를 출력하도록 합니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
프로젝트 판단 요약
제품/기기레이저 현미경 조명 헤드
경로 측정XY · 대상면 광점 위치
능력 등급재사용 가능한 모듈
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.
비즈니스 작업 및 의도된 출력
- 타겟 고객
- 레이저 현미경 조명 헤드: 대상 표면의 스폿 위치
- 의사 출력
- 대물렌즈 전환 전후의 중심차이
- 적용 조건
- 대물렌즈 색수차와 후면 초점면 간의 관계를 검증해야 합니다.
- 우선순위
- 일반 확장. 나열된 광학 조건, 교정 및 샘플에 따라 검증을 완료해야 합니다.
이미징 입력 및 알고리즘 라우팅
이미징 및 장치 조건
카메라와 대상 표면을 고정하고, 노출과 게인을 기록하고, 시야의 광점과 배경을 덮습니다. 현미경, 릴레이 샘플링 및 파장 적응 카메라
XY · 대상면 광점 위치
카메라와 대상 표면을 고정하고, 노출과 게인을 기록하고, 시야의 광점과 배경을 덮습니다.
- A101적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심
- A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
- A112레이저 스폿 2차원 반복성 및 적용 범위 타원
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
현재 역량과 보완할 역량
재사용 가능한 모듈
기존 모듈을 호스트로 사용할 수 있습니다.
기존 광점 위치 지정, 품질 진단 또는 통계 모듈을 주요 계산 기반으로 사용할 수 있습니다. ROI, 교정, 임계값 및 인터페이스 검증은 여전히 장치별로 완료되어야 합니다.
이 시나리오의 격차:ROI, 눈금자/평면 교정 및 기준점 정의가 필요합니다. 대상 표면의 2차원 위치만 직접 관찰할 수 있습니다. 대물렌즈 색수차와 후면 초점면 간의 관계를 검증해야 합니다. 입자 이미지 포지셔닝은 알고리즘 마이그레이션이므로 이미지 모델을 다시 검증해야 합니다.
경로 수준 격차:ROI, 눈금자/평면 교정 및 기준점 정의가 필요합니다. 대상 표면의 2차원 위치만 직접 관찰할 수 있습니다.
"재사용 가능한 모듈"은 상대적인 개발 규모만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 배송 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.
확인 방법 및 수락 전제 조건
2차원 변위 스테이지와 고정 기준점을 사용하여 독립적으로 테스트되었으며 중심 오류 P95, 감지 누락 및 잘못된 감지를 보고했습니다. 마이크로스피어 스테이지, 미세한 눈금자 및 독립적인 위치 지정 참조
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
증거 출처 및 인용 경계
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
광핀셋 카메라의 위치보정에 관한 연구
제한된 입자 위치 감지와 노출 및 샘플링이 교정에 미치는 영향
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →Ophir 작은 빔 측정
소형 빔 근거리장, 원거리장 및 모드장 측정의 광학적 조건
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
대물렌즈 교체 후 빔 포인트 복귀 확인
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com