마이크로 엡실론 레이저 삼각 측량 원리
교정 후 영상 전송, 수신 및 거리 측정
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →LSP131 · 식품 포장 및 제약 장비 · 포장, 인쇄, 라벨링 및 물류
부분적으로 재사용 가능
금형 로드 외부 변위의 광학적 관찰
태블릿 프레스 금형을 마주보며 광점 타이밍과 드리프트가 관찰 경로로 사용되며 주기적인 스트로크와 끝점 드리프트가 시뮬레이션되어 출력됩니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
프로젝트 판단 요약
제품/기기태블릿 프레스 금형
경로 측정TIME · 광점 타이밍 및 드리프트
능력 등급부분적으로 재사용 가능
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.
비즈니스 작업 및 의도된 출력
- 타겟 고객
- 정제 압착 금형: 광점 타이밍 및 드리프트
- 의사 출력
- 사이클 이동 및 종점 드리프트
- 적용 조건
- 약의 무게와 경도는 변위로부터 직접적으로 결정될 수 없습니다.
- 우선순위
- 일반 확장. 나열된 광학 조건, 교정 및 샘플에 따라 검증을 완료해야 합니다.
이미징 입력 및 알고리즘 라우팅
이미징 및 장치 조건
글로벌 셔터 또는 알려진 판독 타이밍은 타임스탬프와 동작 빈도에 맞게 조정된 노출을 저장합니다. 밀폐된 작업 스테이션, 안정적인 기준 및 청소 가능한 광학 창
TIME · 광점 타이밍 및 드리프트
글로벌 셔터 또는 알려진 판독 타이밍, 타임스탬프 저장, 동작 빈도에 맞는 노출
- A22칼만 필터
- A25Welch 전력 스펙트럼 추정
- A72Hampel 중앙값 절대 편차 이상 필터링
- A101적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심
- A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
- A112레이저 스폿 2차원 반복성 및 적용 범위 타원
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
현재 역량과 보완할 역량
부분적으로 재사용 가능
교정, 동기화 또는 통합이 필요합니다.
광점 감지 프런트엔드 또는 타이밍 통계 모듈을 재사용할 수 있지만 프로젝트에 기하학적 교정, 시간 동기화, 동작 보상 또는 장비 시스템 통합을 추가해야 합니다.
이 시나리오의 격차:샘플링 속도/노출 확인, 시간 동기화 및 참조 대상 카메라 모션 보상이 필요합니다. 레이저 도플러 진동계를 대체할 수 없습니다. 약의 무게와 경도는 변위로부터 직접적으로 결정될 수 없습니다. 측정 대상은 형상/장치 변위이며, 구성, 무균성, 기밀성에 대한 유추는 이루어지지 않습니다.
경로 수준 격차:샘플링 속도/노출 확인, 시간 동기화 및 참조 대상 카메라 모션 보상이 필요합니다. 레이저 도플러 진동계를 대체할 수 없음
"부분적으로 재사용 가능"은 상대적인 개발 볼륨만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 전달 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.
확인 방법 및 수락 전제 조건
알려진 주파수 셰이커 또는 인코더 비교를 통해 앨리어싱, 위상, 드리프트 및 프레임 손실을 확인합니다. 표준 용기/두꺼운 시트, 접촉 게이지 및 독립 불량 샘플 비교
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
증거 출처 및 인용 경계
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
마이크로 엡실론 변위 애플리케이션
산업용 높이, 거리, 위치 측정 카테고리
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →마이크로 엡실론 두께 적용
변위센서 조합 두께 측정; 다양한 측정 원리를 별도로 선택해야 합니다.
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
금형 로드 외부 변위의 광학적 관찰
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com