마이크로 엡실론 레이저 삼각 측량 원리
교정 후 영상 전송, 수신 및 거리 측정
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →LSP101 · 금속 성형 및 표면 포인트 스캐닝 · 금속 시트 및 스트립
부분적으로 재사용 가능
용접 후 각도 변형의 반사 목표 측정
용접 시험판을 바라보고 반사 광학 레버의 각도를 관찰 경로로 사용하여 미러 타겟의 각도 변화를 출력하려고 합니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
프로젝트 판단 요약
제품/기기용접시험판
경로 측정ANGLE · 반사형 광학레버 각도
능력 등급부분적으로 재사용 가능
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.
비즈니스 작업 및 의도된 출력
- 타겟 고객
- 용접 테스트 플레이트: 반사형 광학 레버 각도
- 의사 출력
- 미러 타겟 각도 변경
- 적용 조건
- 고정 가능한 반사 참조 필름이 필요합니다.
- 우선순위
- 일반 확장. 나열된 광학 조건, 교정 및 샘플에 따라 검증을 완료해야 합니다.
이미징 입력 및 알고리즘 라우팅
이미징 및 장치 조건
입사광과 반사경을 고정하고 카메라/수신 화면과 앵글 스테이지 간의 해당 관계를 교정합니다. 포인트 레이저 및 코드 스캐닝, 반사 억제 및 고정 장치 참조
ANGLE · 반사형 광학레버 각도
입사광과 반사경을 고정하고, 카메라/수신 화면과 앵글 스테이지의 대응 관계를 교정합니다.
- A101적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심
- A103대수 2차 표면 하위 픽셀 스폿 중심
- A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
- A1092차원 픽셀에서 물리적 좌표 다항식 교정으로
- A110레이저 포인트 교정 매핑 및 공분산 전파
- A112레이저 스폿 2차원 반복성 및 적용 범위 타원
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
현재 역량과 보완할 역량
부분적으로 재사용 가능
교정, 동기화 또는 통합이 필요합니다.
광점 감지 프런트엔드 또는 타이밍 통계 모듈을 재사용할 수 있지만 프로젝트에 기하학적 교정, 시간 동기화, 동작 보상 또는 장비 시스템 통합을 추가해야 합니다.
이 시나리오의 격차:광학 레버 형상, 반사 이중 각도 관계 및 입사점 이동 보상이 필요합니다. 거울 각도와 대상 변환은 분리되어야 합니다. 고정 가능한 반사 참조 부품이 필요합니다. 스캔은 눈에 보이는 표면만 획득하며 내부 조직을 식별할 수 없습니다.
경로 수준 격차:광학 레버 형상, 반사 이중 각도 관계 및 입사점 이동 보상이 필요합니다. 거울 각도와 대상 변환은 분리되어야 합니다.
"부분적으로 재사용 가능"은 상대적인 개발 볼륨만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 전달 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.
확인 방법 및 수락 전제 조건
독립적인 각도 스테이지/자동 시준기를 사용하여 양방향 및 다중 자세 테스트를 수행하고 각도 오류 및 반사 차이를 보고합니다. 3차원 좌표, 표준 스텝 및 인공 결함 위치 비교
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
증거 출처 및 인용 경계
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
마이크로 엡실론 변위 애플리케이션
산업용 높이, 거리, 위치 측정 카테고리
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →NIST 3D 이미징 기술 설명
활성 포인트 삼각측량, 스캔된 기하학 및 오류 전파
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
용접 후 각도 변형의 반사 목표 측정
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com