마이크로 엡실론 레이저 삼각 측량 원리
교정 후 영상 전송, 수신 및 거리 측정
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →LSP076 · 전자 및 반도체 조립 높이 · PCB 블랭크 보드 및 전자 조립
새로운 코어를 추가해야 함
핀 부위 발 리프트 후보 심사
리드프레임을 향하여 점 스캐닝 3차원 지형을 관찰 경로로 사용하고 샘플링 높이 이상 지점을 출력할 계획입니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
프로젝트 판단 요약
제품/기기리드 프레임
경로 측정SCAN·점 스캐닝 3차원 지형도
능력 등급새로운 코어를 추가해야 함
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.
비즈니스 작업 및 의도된 출력
- 타겟 고객
- 리드프레임: 포인트 스캔 3D 지형
- 의사 출력
- 샘플링 높이 이상 지점
- 적용 조건
- 패키지 허용 오차를 결정하려면 완전한 벤치마크 모델이 필요합니다.
- 우선순위
- 특별 개발. 특별사업 승인에 따라 계측/제어 코어의 보완 및 검증이 필요함
이미징 입력 및 알고리즘 라우팅
이미징 및 장치 조건
인코더, 포인트 레이저 트랜시버 구조 및 동기화된 이미지를 갖춘 스캐닝 메커니즘. 고정 기준점 레이저 수신 헤드 및 교정 Z 플랫폼
SCAN·점 스캐닝 3차원 지형도
인코더, 포인트 레이저 트랜시버 구조 및 동기화된 이미지를 갖춘 스캐닝 메커니즘
- A413차원 점 세트 직교 평면 피팅
- A101적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심
- A103대수 2차 표면 하위 픽셀 스폿 중심
- A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
- A111레이저 포인트 픽셀을 카메라 시야각으로 변환
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
현재 역량과 보완할 역량
새로운 코어를 추가해야 함
코어 컴퓨팅 추가 필요
광점 추출은 관측 전단으로만 사용할 수 있으며, 3차원 재구성, 폐쇄 루프 제어, 파면 또는 물리량 역산과 같은 핵심 기능은 별도로 개발하고 검증해야 합니다.
이 시나리오의 격차:새로운 점 삼각측량 교차점, 스캐닝 좌표 융합, 표면 재구성, 모양 및 위치 평가를 추가해야 합니다. A41은 기존의 3차원 점에만 맞습니다. 패키지 허용 오차를 결정하려면 완전한 기준 모델이 필요합니다. 실제 기계의 표면 반사와 작은 측정 범위에 따라 유효점을 수집할 수 있는지 여부가 결정됩니다.
경로 수준 격차:새로운 점 삼각측량 교차점, 스캐닝 좌표 융합, 표면 재구성, 모양 및 위치 평가를 추가해야 합니다. A41은 기존의 3차원 점에만 맞습니다.
"필요한 새로운 코어"는 상대적인 개발 규모만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 납품 시간에 대한 약속을 의미하지는 않습니다.
확인 방법 및 수락 전제 조건
알려진 단계/윤곽 샘플을 사용하여 CMM 또는 프로파일러로 블라인드 테스트를 수행하여 누락된 영역과 스캐닝 단계 거리를 확인합니다. 게이지 블록, 미세 높이 게이지 및 독립 조립 샘플 비교
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
증거 출처 및 인용 경계
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
마이크로 엡실론 변위 애플리케이션
산업용 높이, 거리, 위치 측정 카테고리
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →NIST 3D 이미징 기술 설명
활성 포인트 삼각측량, 스캔된 기하학 및 오류 전파
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
핀 부위 발 리프트 후보 심사
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com