Centro di simmetria radiale Carta originale
Posizionamento centrale sub-pixel di target approssimativamente radialmente simmetrici
Data di verifica: 24-10-2026
Visualizza le informazioni pubbliche originali →LSP244 · Microscopio e strumenti di ricerca con pinzette ottiche · Imaging microscopico e ricerca sulle particelle
È necessario aggiungere un nuovo nucleoMigrazione degli algoritmi · Applicazioni di prodotti non laser
Catturare la posizione 2D della parte anteriore delle microsfere
Di fronte al dispositivo sperimentale con pinzette ottiche, utilizzando la migrazione di immagini di particelle puntiformi come percorso di osservazione, si prevede di produrre traiettorie di microsfere e fotogrammi mancanti. La pagina serve per la valutazione del progetto e non significa che lo sviluppo sia stato completato o sia stato accettato in loco.
Sintesi del giudizio sul progetto
Prodotto/DispositivoDispositivo sperimentale per pinzette ottiche
Misurare il percorsoPARTICELLE · Migrazione di immagini di particelle puntiformi
Valutazione delle abilitàÈ necessario aggiungere un nuovo nucleo
Stato di verificaL'effettiva accettazione del dominio macchina/prodotto di questo scenario non è stata effettuata
Istruzioni per la migrazione:La migrazione dell'algoritmo di posizionamento delle immagini di particelle/punti luminosi non dovrebbe essere espressa come un'applicazione comprovata di prodotti laser. Il potenziale scenario applicativo non è stato ancora sviluppato in un sistema di prodotto completo; l'effettiva accettazione del dominio macchina/prodotto di questo scenario non è stata effettuata. La quantità effettiva di prodotto/dominio accettato nelle statistiche del catalogo è 0.
Compiti aziendali e risultati attesi
- pubblico di destinazione
- Dispositivo sperimentale con pinzette ottiche: migrazione di immagini di particelle puntiformi
- pseudo-uscita
- Traiettorie delle microsfere e fotogrammi mancanti
- Condizioni applicabili
- La rigidità della trappola richiede la compensazione dell'esposizione e la calibrazione dinamica.
- priorità
- Sviluppo speciale. Il nucleo di misurazione/controllo deve essere integrato e verificato in base all'approvazione speciale del progetto
Input di immagini e routing degli algoritmi
Condizioni dell'immagine e del dispositivo
Le immagini delle particelle possono essere separate sotto illuminazione laser ed è possibile eseguire la calibrazione del righello microscopico, dell'esposizione e del campionamento. Microscopi, campionamento a relè e fotocamere adattate alla lunghezza d'onda
PARTICELLE · Migrazione di immagini di particelle puntiformi
Le immagini delle particelle possono essere separate mediante illuminazione laser, righello microscopico, esposizione e calibrazione del campionamento
- A22Filtro di Kalman
- A25Stima dello spettro di potenza di Welch
- A102Estrazione del candidato dominio connesso a più punti laser
- A104Centro del punto luminoso a simmetria radiale sfumata
- A108Corrispondenza uno a uno dei bit di riferimento del punto multi-laser
Evidenze algoritmiche esistenti:A101–A112 completa solo la sintesi analitica spot e la verifica della geometria controllata; vedere laser_spot_benchmark.json
Capacità attuali e capacità da integrare
È necessario aggiungere un nuovo nucleo
È necessario aggiungere il core computing
L’estrazione del punto luce può essere utilizzata solo come front-end di osservazione e funzionalità fondamentali come la ricostruzione tridimensionale, il controllo a circuito chiuso, il fronte d’onda o l’inversione della quantità fisica devono essere sviluppate e verificate separatamente.
Lacune in questo scenario:È necessario aggiungere la correlazione/dinamica/compensazione della sfocatura delle particelle; l'immagine della particella viene migrata dall'algoritmo di posizionamento e non può essere utilizzata come centro del raggio laser originale. La rigidità della trappola richiede la compensazione dell'esposizione e la calibrazione dinamica. Il posizionamento dell'immagine delle particelle è una migrazione dell'algoritmo e il modello dell'immagine deve essere nuovamente verificato.
Lacune a livello di percorso:È necessario aggiungere la correlazione/dinamica/compensazione della sfocatura delle particelle; l'immagine della particella viene migrata dall'algoritmo di posizionamento e non può essere utilizzata come centro del raggio laser originale
"Nuovi nuclei richiesti" descrive solo il relativo volume di sviluppo e non costituisce un impegno in termini di precisione, ritmo, stabilità o tempi di consegna.
Modalità di verifica e prerequisiti di accettazione
Le microsfere vengono guidate da uno stadio di spostamento e testate con una marcatura della traiettoria indipendente e la calibrazione del fluido/forza di riferimento viene utilizzata per l'inversione delle proprietà fisiche. Tavolino a microsfere, righello microscopico e riferimento di posizionamento indipendente
| Articoli di accettazione | Prove richieste per la conferma del progetto | Stato attuale |
|---|---|---|
| Ingressi e campioni | Fotogrammi originali del dispositivo reale, campioni normali/anomali, condizioni di esposizione e percorso luminoso, raggruppamento e messa da parte dei campioni | Non fornito, in attesa di input del progetto |
| Grandezza ed errore | Valore di riferimento indipendente, registro di calibrazione, calibro statistico di errore e soglia di mutua conferma | Non verificato |
| Eccezioni e confini | Gestione anticipata di rilevamenti mancati, falsi rilevamenti, sovraesposizione, occlusione, riflessione, fuori campo visivo e anomalie di comunicazione | Da definire |
| Integrazione del sistema | Interfaccia, sincronizzazione dell'ora, piattaforma di distribuzione, tempo, registro, versione e registrazione di esecuzione continua | Non integrato |
Fonti delle prove e confini delle citazioni
La sorgente supporta principi di misurazione o applicazioni simili; la combinazione del modulo, il dispositivo e il metodo di accettazione in questo scenario sono di derivazione ingegneristica e la verifica del prodotto non è stata completata.
Ricerca sulla calibrazione della posizione della fotocamera a pinzetta ottica
Rilevamento limitato della posizione delle particelle e impatto dell'esposizione e del campionamento sulla calibrazione
Data di verifica: 24-10-2026
Visualizza le informazioni pubbliche originali →Misurazione del piccolo raggio Ophir
Condizioni ottiche nelle misure di campo vicino, campo lontano e campo modale a fascio piccolo
Data di verifica: 24-10-2026
Visualizza le informazioni pubbliche originali →Ambito di utilizzo della fonte:Le informazioni pubbliche vengono utilizzate per supportare il principio di misurazione o l'esistenza di applicazioni simili e non dimostrano che questo scenario sia stato sviluppato, implementato o accettato da Jishi Technology.
Consultazione del progetto
xuzhiyang0928@gmail.com
Invia campioni e condizioni dell'attrezzatura per chiarire l'ambito di sviluppo e consegna
Catturare la posizione 2D della parte anteriore delle microsfere
Descrivi l'oggetto dell'attività, l'immagine o il video originale, gli indicatori di destinazione, la piattaforma del dispositivo, l'interfaccia e la situazione campione.
Telefono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com