Misurazioni di Ophir VCSEL
Categorie di misurazione della matrice di emissione VCSEL e della morfologia del fascio
Data di verifica: 24-10-2026
Visualizza le informazioni pubbliche originali →LSP025 · VCSEL e array di emissione · Wafer e packaging per semiconduttori
Parzialmente riutilizzabile
Punto di emissione a bassa densità mancante dello screening dei candidati
Per i chip nudi VCSEL, come percorso di osservazione viene utilizzato il confronto tra array di punti luminosi di separazione e si prevede di fornire in output il numero di punti separabili e le posizioni dei difetti. La pagina serve per la valutazione del progetto e non significa che lo sviluppo sia stato completato o sia stato accettato in loco.
Sintesi del giudizio sul progetto
Prodotto/DispositivoVCSEL matrice nuda
Misurare il percorsoARRAY·Confronto di array di spot separati
Valutazione delle abilitàParzialmente riutilizzabile
Stato di verificaL'effettiva accettazione del dominio macchina/prodotto di questo scenario non è stata effettuata
Natura della scena:Possibili scenari applicativi simili per gli spot laser. Il potenziale scenario applicativo non è stato ancora sviluppato in un sistema di prodotto completo; l'effettiva accettazione del dominio macchina/prodotto di questo scenario non è stata effettuata. La quantità effettiva di prodotto/dominio accettato nelle statistiche del catalogo è 0.
Compiti aziendali e risultati attesi
- pubblico di destinazione
- Die VCSEL: confronto di array di punti luminosi separati
- pseudo-uscita
- Punti staccabili e posizioni dei difetti
- Condizioni applicabili
- Gli array ad alta densità richiedono una nuova separazione dei punti sovrapposti
- priorità
- Estensione generale. La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Input di immagini e routing degli algoritmi
Condizioni dell'immagine e del dispositivo
Punti luce multipli separati e numerati, piano ricevente e campo visivo fissi. Rilevatore di risposta nel vicino infrarosso, trigger sincronizzato e imaging di punti di campo vicino/lontano separabili
ARRAY·Confronto di array di spot separati
Punti luce multipli separati e numerati, piano ricevente e campo visivo fissi
- A102Estrazione del candidato dominio connesso a più punti laser
- A105Momento secondo del punto laser e diametro dell'asse principale
- A107Qualità dello spot laser e diagnostica dell'usabilità
- A108Corrispondenza uno a uno dei bit di riferimento del punto multi-laser
- A112Ripetibilità bidimensionale dello spot laser ed ellisse di copertura
Evidenze algoritmiche esistenti:A101–A112 completa solo la sintesi analitica spot e la verifica della geometria controllata; vedere laser_spot_benchmark.json
Capacità attuali e capacità da integrare
Parzialmente riutilizzabile
Richiede calibrazione, sincronizzazione o integrazione
Il front-end di rilevamento del punto luce o il modulo di statistica temporale possono essere riutilizzati, ma il progetto deve ancora aggiungere calibrazione geometrica, sincronizzazione temporale, compensazione del movimento o integrazione del sistema di apparecchiature.
Lacune in questo scenario:Sono necessari la numerazione della sequenza dei punti, la ROI locale, la diafonia e l'elaborazione dell'occlusione; A108 corrisponde solo in base alla distanza nello stesso sistema di coordinate. Gli array ad alta densità richiedono una nuova separazione dei punti sovrapposti. Il numero di punti luce e il numero di unità di emissione fisica non devono corrispondere uno a uno.
Lacune a livello di percorso:Sono richiesti la numerazione della sequenza dei punti, ROI locale, diafonia e elaborazione dell'occlusione; A108 corrisponde solo in base alla distanza nello stesso sistema di coordinate
"Parzialmente riutilizzabile" descrive solo il relativo volume di sviluppo e non costituisce un impegno in termini di precisione, ritmo, stabilità o tempi di consegna.
Modalità di verifica e prerequisiti di accettazione
Verifica il conteggio dei punti, i tassi di corrispondenza e le discrepanze utilizzando dati noti su reticolo e difetti artificiali/sovrapposizioni/scrambling. Controllo incrociato con micrografie, radiometri indipendenti e array di progettazione
| Articoli di accettazione | Prove richieste per la conferma del progetto | Stato attuale |
|---|---|---|
| Ingressi e campioni | Fotogrammi originali del dispositivo reale, campioni normali/anomali, condizioni di esposizione e percorso luminoso, raggruppamento e messa da parte dei campioni | Non fornito, in attesa di input del progetto |
| Grandezza ed errore | Valore di riferimento indipendente, registro di calibrazione, calibro statistico di errore e soglia di mutua conferma | Non verificato |
| Eccezioni e confini | Gestione anticipata di rilevamenti mancati, falsi rilevamenti, sovraesposizione, occlusione, riflessione, fuori campo visivo e anomalie di comunicazione | Da definire |
| Integrazione del sistema | Interfaccia, sincronizzazione dell'ora, piattaforma di distribuzione, tempo, registro, versione e registrazione di esecuzione continua | Non integrato |
Fonti delle prove e confini delle citazioni
La sorgente supporta principi di misurazione o applicazioni simili; la combinazione del modulo, il dispositivo e il metodo di accettazione in questo scenario sono di derivazione ingegneristica e la verifica del prodotto non è stata completata.
Ophir fascio divergente grandangolare
Condizioni di imaging per l'acquisizione in campo lontano e fascio grandangolare
Data di verifica: 24-10-2026
Visualizza le informazioni pubbliche originali →Ambito di utilizzo della fonte:Le informazioni pubbliche vengono utilizzate per supportare il principio di misurazione o l'esistenza di applicazioni simili e non dimostrano che questo scenario sia stato sviluppato, implementato o accettato da Jishi Technology.
Consultazione del progetto
xuzhiyang0928@gmail.com
Invia campioni e condizioni dell'attrezzatura per chiarire l'ambito di sviluppo e consegna
Punto di emissione a bassa densità mancante dello screening dei candidati
Descrivi l'oggetto dell'attività, l'immagine o il video originale, gli indicatori di destinazione, la piattaforma del dispositivo, l'interfaccia e la situazione campione.
Telefono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com