Arah ini menguraikan dan menjelaskan produk tertentu, tugas pengukuran, masukan pencitraan, rute algoritma, keluaran yang diusulkan, dan metode penerimaan, yang dapat digunakan untuk mengevaluasi sampel dan kondisi sistem sebelum pembentukan proyek perusahaan.
Ruang lingkup industri:Perangkat cahaya dan difraksi terstruktur.
Melibatkan rute pengukuran:Inversi posisi urutan difraksi, perbandingan susunan titik cahaya terpisah, kalibrasi koordinat permukaan perintah/target dua dimensi.
Kisi difraksi standar·Inversi posisi urutan difraksi
Sudut titik difraksi dan calon periode
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Meja putar kisi·Inversi posisi urutan difraksi
Sudut lintasan titik yang sesuai
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Instrumen pengajaran panjang gelombang laser·Inversi posisi urutan difraksi
Jarak titik difraksi dan calon panjang gelombang
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Spesimen struktur mikro periodik · Inversi posisi urutan difraksi
Perubahan jarak kelas
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Bangku uji perangkat akustik-optik·Perbandingan susunan titik cahaya terpisah
Lintasan titik tingkat pertama dan energi relatif
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Pemisah sinar difraksi multi-urutan · memisahkan perbandingan susunan titik cahaya
Penyimpangan urutan positif dan negatif
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Benda uji susunan lubang mikro · Kalibrasi koordinat permukaan perintah/target dua dimensi
Sudut susunan dan sisa pelurusan
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Komponen proyeksi difraksi·Perbandingan susunan titik cahaya terpisah
Jarak titik dan kurva suhu
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Difraksi kisi dan struktur periodik: 8 skenario penerapan potensial algoritma titik laser dan titik cahaya
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357