Arah ini menguraikan dan menjelaskan produk tertentu, tugas pengukuran, masukan pencitraan, rute algoritma, keluaran yang diusulkan, dan metode penerimaan, yang dapat digunakan untuk mengevaluasi sampel dan kondisi sistem sebelum pembentukan proyek perusahaan.
Ruang lingkup industri:Wafer dan kemasan semikonduktor.
Melibatkan rute pengukuran:Perbandingan susunan titik cahaya terpisah, kalibrasi koordinat permukaan perintah/target dua dimensi, bentuk titik cahaya dan distribusi relatif, waktu dan penyimpangan titik cahaya.
Perbandingan chip kosong VCSEL·spot array terpisah
Titik yang dapat dilepas dan lokasi cacat
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Modul paket VCSEL · Kalibrasi koordinat perintah/target dua dimensi
Pose kisi dan sisa referensi
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Komponen medan jauh VCSEL · Bentuk titik dan distribusi relatif
Lebar zona dan sebaran morfologi
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Perbandingan susunan lensa VCSEL · susunan titik terpisah
Daftar offset dan outlier registrasi
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Modul pulsa VCSEL · Waktu titik dan penyimpangan
Putaran pemicu dan diskritisasi pusat
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Modul proyeksi titik inframerah dekat·perbandingan susunan titik cahaya terpisah
Pusat array dan jarak titik berubah
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Papan uji driver VCSEL·Perbandingan susunan titik cahaya terpisah
Grup penggerak sesuai dengan titik yang terlihat
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Paket kolimasi VCSEL · Bentuk titik dan distribusi relatif
Jarak titik, lebar, dan status penggabungan
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →VCSEL dan susunan emisi: 8 skenario aplikasi potensial algoritma titik laser dan titik cahaya
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357