Modélisation MathWorks Shack-Hartmann
Migration de points de sous-ouverture, pente du front d'onde et étapes de reconstruction du front d'onde
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →LSP236 · Front d'onde et optique adaptative · Front d'onde et optique adaptative
Besoin d'ajouter un nouveau noyau
Mesure par réseau cible des aberrations d'ordre inférieur
Face à la plate-forme optique du télescope, en prenant le point lumineux de la sous-ouverture et le front d'onde comme route d'observation, il est prévu de produire le décalage de sous-ouverture et les candidats du front d'onde. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.
Résumé du jugement du projet
Produit/AppareilSupport optique pour télescope
Mesurer l'itinéraireWAVE · Spot de sous-ouverture et front d'onde
Classement des capacitésBesoin d'ajouter un nouveau noyau
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Nature de la scène :Scénarios d’application potentiels similaires pour les spots laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.
Tâches commerciales et résultats attendus
- public cible
- Banc optique de télescope : spot de sous-ouverture et front d'onde
- pseudo-sortie
- Migration de sous-ouverture et candidats au front d'onde
- Conditions applicables
- Les performances réelles de la source de lucarne nécessitent une vérification sur site
- priorité
- Développement spécial. Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Entrée d’imagerie et routage d’algorithme
Conditions d’imagerie et de l’appareil
Réseau de microlentilles, onde plane de référence, numéro de sous-ouverture correspondant et étalonnage de la distance focale. Réseau de microlentilles, champ de points de référence et composants d'étalonnage du front d'onde
WAVE · Spot de sous-ouverture et front d'onde
Réseau de microlentilles, onde plane de référence, numéro de sous-ouverture correspondant et étalonnage de la distance focale
- A102Extraction de candidats de domaine connectés par points multi-laser
- A103Centre du point de sous-pixel de surface quadratique logarithmique
- A104Centre du point lumineux à symétrie radiale dégradée
- A107Diagnostic de qualité et d'utilisabilité du spot laser
- A108Correspondance un à un des bits de référence de points multi-laser
Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json
Capacités actuelles et capacités à compléter
Besoin d'ajouter un nouveau noyau
Besoin d'ajouter du calcul de base
L'extraction de points lumineux ne peut être utilisée que comme interface d'observation, et des capacités de base telles que la reconstruction tridimensionnelle, le contrôle en boucle fermée, l'inversion du front d'onde ou de la quantité physique doivent être développées et vérifiées séparément.
Lacunes dans ce scénario :La conversion de pente, l'intégration du front d'onde/l'ajustement Zernike et la reconstruction des défauts doivent être ajoutées ; le centroïde lui-même ne produit pas le front d'onde. Les performances des véritables sources de puits de lumière doivent être vérifiées sur site. Le code existant prévoit l'extraction du centre, et la pente du front d'onde et le noyau de reconstruction doivent être ajoutés.
Écarts au niveau de l'itinéraire :Nécessité d'ajouter la conversion de pente, l'intégration du front d'onde/l'ajustement Zernike et la reconstruction des défauts ; le centre de gravité lui-même ne produit pas le front d'onde
« Nouveaux noyaux requis » décrit uniquement le volume relatif de développement et ne constitue pas un engagement quant à la précision, au rythme, à la stabilité ou au délai de livraison.
Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation
Utilisez un interféromètre indépendant ou un élément de phase d'aberration connu pour vérifier la pente, les résidus de reconstruction et la plage dynamique. Comparaison avec des éléments d'aberration et des interféromètres connus
| Articles d'acceptation | Preuves requises pour la confirmation du projet | Statut actuel |
|---|---|---|
| Entrées et échantillons | Cadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côté | Non fourni, en attente de commentaires sur le projet |
| Ampleur et erreur | Valeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelle | Non vérifié |
| Exceptions et limites | Traitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication. | A définir |
| Intégration du système | Interface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continue | Non intégré |
Sources de preuves et limites des citations
La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.
Étude Shack-Hartmann à grande plage dynamique
Corrélation des points lumineux, points manquants et contraintes de reconstruction du front d'onde
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Mesure par réseau cible des aberrations d'ordre inférieur
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com