Principe de triangulation laser Micro-Epsilon
Transmission, réception d'images et mesure de distance après étalonnage
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →LSP137 · Vitrocéramiques et matériaux durs et cassants · Céramiques et matériaux réfractaires
Besoin d'ajouter un nouveau noyau
Échantillonnage de déformation à des points désignés sur le substrat
Face au substrat céramique, la topographie tridimensionnelle à balayage ponctuel est utilisée comme voie d'observation, et le décalage Z et la différence de hauteur d'échantillonnage sont destinés à être générés. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.
Résumé du jugement du projet
Produit/AppareilSubstrat céramique
Mesurer l'itinéraireSCAN·Point scanning de la topographie 3D
Classement des capacitésBesoin d'ajouter un nouveau noyau
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Nature de la scène :Scénarios d’application potentiels similaires pour les spots laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.
Tâches commerciales et résultats attendus
- public cible
- Substrat céramique : topographie 3D par balayage ponctuel
- pseudo-sortie
- Décalage Z et différence de hauteur d'échantillonnage
- Conditions applicables
- L'indice de déformation formel nécessite une définition de données
- priorité
- Développement spécial. Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Entrée d’imagerie et routage d’algorithme
Conditions d’imagerie et de l’appareil
Mécanisme de balayage avec encodeur, géométrie d'émetteur-récepteur laser ponctuel et images synchronisées. Outillage d'éprouvette commutable en réflexion/transmission et lecture de code
SCAN·Point scanning de la topographie 3D
Mécanisme de balayage avec encodeur, géométrie d'émetteur-récepteur laser ponctuel et images synchronisées
- A41Ajustement de plan orthogonal d'ensemble de points tridimensionnels
- A101Centre de gravité du point laser à seuil adaptatif en niveaux de gris
- A103Centre du point de sous-pixel de surface quadratique logarithmique
- A107Diagnostic de qualité et d'utilisabilité du spot laser
- A111Conversion du pixel du point laser en angle de vue de la caméra
Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json
Capacités actuelles et capacités à compléter
Besoin d'ajouter un nouveau noyau
Besoin d'ajouter du calcul de base
L'extraction de points lumineux ne peut être utilisée que comme interface d'observation, et des capacités de base telles que la reconstruction tridimensionnelle, le contrôle en boucle fermée, l'inversion du front d'onde ou de la quantité physique doivent être développées et vérifiées séparément.
Lacunes dans ce scénario :Il est nécessaire d'ajouter une nouvelle intersection de triangulation de points, une fusion de coordonnées de balayage, une reconstruction de surface et une évaluation de forme et de position ; A41 s'adapte uniquement aux points tridimensionnels existants. Les indicateurs de déformation formels nécessitent une définition de données. Des matériaux transparents ou miroirs doivent être spécialement utilisés pour recevoir et recevoir des optiques, et une adaptation universelle n'est pas promise.
Écarts au niveau de l'itinéraire :Il est nécessaire d'ajouter une nouvelle intersection de triangulation de points, une fusion de coordonnées de balayage, une reconstruction de surface et une évaluation de forme et de position ; A41 s'adapte uniquement aux points tridimensionnels existants.
« Nouveaux noyaux requis » décrit uniquement le volume relatif de développement et ne constitue pas un engagement quant à la précision, au rythme, à la stabilité ou au délai de livraison.
Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation
Utilisez un échantillon de pas/contour connu pour effectuer un test aveugle avec une MMT ou un profileur afin de vérifier la zone manquante et la distance de pas de numérisation. Tests aveugles d'étapes standard, de jauges d'interférence/contour et de groupes de matériaux
| Articles d'acceptation | Preuves requises pour la confirmation du projet | Statut actuel |
|---|---|---|
| Entrées et échantillons | Cadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côté | Non fourni, en attente de commentaires sur le projet |
| Ampleur et erreur | Valeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelle | Non vérifié |
| Exceptions et limites | Traitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication. | A définir |
| Intégration du système | Interface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continue | Non intégré |
Sources de preuves et limites des citations
La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.
Description de la technologie d'imagerie 3D du NIST
Triangulation de points actifs, géométrie scannée et propagation des erreurs
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Recherche sur l'incertitude de speckle de la triangulation laser
Effet du speckle sur l'incertitude de position et de distance
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Échantillonnage de déformation à des points désignés sur le substrat
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com