LSP039 · Projecteur DOE et matriciel · Lumière structurée et dispositifs diffractifs
Besoin d'ajouter un nouveau noyau

Recherche sur la dérive de l'angle du réseau lorsque la longueur d'onde du laser change

Pour les packages DOE, l'inversion de position de l'ordre de diffraction est utilisée comme voie d'observation, et il est proposé de produire la relation entre l'angle d'ordre et la longueur d'onde. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.

Résumé du jugement du projet

Produit/AppareilPaquet DOE
Mesurer l'itinéraireDIFFRACT·Inversion de position de l'ordre de diffraction
Classement des capacitésBesoin d'ajouter un nouveau noyau
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Nature de la scène :Scénarios d’application potentiels similaires pour les spots laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.

Tâches commerciales et résultats attendus

public cible
Package DOE : Inversion de position de l’ordre de diffraction
pseudo-sortie
Relation entre l'angle d'ordre et la longueur d'onde
Conditions applicables
La longueur d'onde doit être enregistrée par un spectromètre indépendant
priorité
Développement spécial. Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.

Entrée d’imagerie et routage d’algorithme

Conditions d’imagerie et de l’appareil

Un dispositif à champ lointain dans lequel l'une des longueurs d'onde ou périodes, l'ordre de diffraction et la direction d'incidence sont connus. Distance de projection fixe, plaque cible et caméra, treillis de conception connue

DIFFRACT·Inversion de position de l'ordre de diffraction

Un dispositif à champ lointain dans lequel l'une des longueurs d'onde ou périodes, l'ordre de diffraction et la direction d'incidence sont connus

  • A102Extraction de candidats de domaine connectés par points multi-laser
  • A103Centre du point de sous-pixel de surface quadratique logarithmique
  • A108Correspondance un à un des bits de référence de points multi-laser
  • A111Conversion du pixel du point laser en angle de vue de la caméra

Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json

Capacités actuelles et capacités à compléter

Besoin d'ajouter un nouveau noyau

Besoin d'ajouter du calcul de base

L'extraction de points lumineux ne peut être utilisée que comme interface d'observation, et des capacités de base telles que la reconstruction tridimensionnelle, le contrôle en boucle fermée, l'inversion du front d'onde ou de la quantité physique doivent être développées et vérifiées séparément.

Lacunes dans ce scénario :Il est nécessaire d'ajouter l'équation du réseau/le modèle de diffraction, l'identification de l'ordre et la compensation de la dérive de température en longueur d'onde. La longueur d'onde doit être enregistrée par un spectromètre indépendant. L'avant du treillis peut être réutilisé ; la profondeur tridimensionnelle et l'efficacité absolue doivent être construites séparément.

Écarts au niveau de l'itinéraire :Nécessité d'ajouter une équation de réseau/un modèle de diffraction, une identification de l'ordre et une compensation de dérive de température de longueur d'onde

« Nouveaux noyaux requis » décrit uniquement le volume relatif de développement et ne constitue pas un engagement quant à la précision, au rythme, à la stabilité ou au délai de livraison.

Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation

Test croisé avec un réseau standard et une référence indépendante de longueur d'onde/d'angle pour résoudre les ambiguïtés d'ordre. Vérification de la plaque cible standard et du test d’occlusion/luxation artificielle

Articles d'acceptationPreuves requises pour la confirmation du projetStatut actuel
Entrées et échantillonsCadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côtéNon fourni, en attente de commentaires sur le projet
Ampleur et erreurValeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelleNon vérifié
Exceptions et limitesTraitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication.A définir
Intégration du systèmeInterface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continueNon intégré

Sources de preuves et limites des citations

La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.

LS-S16 · Usine originale/institution de recherche scientifique/papier original

Séparateur de faisceau de diffraction multipoint Holo/Or

Réseau laser, ordres de diffraction, espacement des spots et configuration optique

Date de vérification : 2026-10-24

Afficher les informations publiques originales →
LS-S17 · Usine originale/institution de recherche scientifique/papier original

Principe de lumière structurée Holo/Or

Le principe d'utiliser des modèles de projection et des déformations géométriques connus pour la mesure

Date de vérification : 2026-10-24

Afficher les informations publiques originales →
Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet

Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison

Recherche sur la dérive de l'angle du réseau lorsque la longueur d'onde du laser change

Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.

Téléphone : 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Les informations renseignées ne seront utilisées qu'à des fins d'évaluation et de contact pour ce projet. Veuillez ne pas soumettre d’informations personnelles non autorisées ou de données sensibles.