Esta dirección desglosa y explica productos específicos, tareas de medición, entradas de imágenes, rutas de algoritmos, salidas propuestas y métodos de aceptación, que pueden usarse para evaluar muestras y condiciones del sistema antes del establecimiento de proyectos corporativos.
Alcance de la industria:MEMS y dispositivos microelectromecánicos.
Implica medir rutas:Ángulo de palanca óptica de reflexión, calibración de coordenadas de superficie de comando/objetivo bidimensional, inversión mecánica de palanca óptica, desplazamiento triangular del láser puntual, forma del punto y distribución relativa.
Reflector MEMS · Ángulo de palanca óptica reflectante
Candidatos de voltaje y ángulo de reflexión.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Espejo de escaneo MEMS · Calibración de coordenadas de comando/objetivo 2D
Trayectoria de comando y residuo de mancha
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Muestra de haz micro-voladizo · Inversión mecánica de palanca óptica
Ángulo final versus curva de carga
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Microdiafragma · Inversión mecánica de palanca óptica
La presión corresponde al desplazamiento del punto de reflexión.
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Muestra de microrelé · Desplazamiento triangular láser puntual
Punto final de acción y retornabilidad
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Microplataforma piezoeléctrica · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo
Mapeo 2D y diferencia de backhaul
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Haz microtorcido · Inversión mecánica de palanca óptica
Ángulo de giro y bucle de carga.
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Actuador de microlente · Forma del punto y distribución relativa
Cantidad de impulso y forma del punto
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →MEMS y dispositivos de haz voladizo: 8 posibles escenarios de aplicación de algoritmos de punto láser y punto de luz
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357