LSP226 · MEMS y dispositivos de viga cantilever · MEMS y dispositivos microelectromecánicos
Parcialmente reutilizable

Reproducción de puntos de luz de trayectorias de escaneo de baja frecuencia.

Frente al espejo de escaneo MEMS, la calibración de coordenadas de superficie objetivo/comando bidimensional se utiliza como ruta de observación, y se planea generar la trayectoria del comando y los residuos del punto de luz. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.

Resumen del juicio del proyecto

Producto/DispositivoEspejo de escaneo MEMS
Medir rutaCAL · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.

Tareas comerciales y resultados previstos.

público objetivo
Espejo de escaneo MEMS: calibración de coordenadas de comando/objetivo bidimensional
pseudo salida
Trayectoria de comando y residuo de mancha
Condiciones aplicables
La resonancia de alta frecuencia no puede aceptarse directamente mediante la extracción de cuadros.
prioridad
extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.

Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos

Condiciones de imagen y dispositivo

Cubra los puntos correspondientes calibrados y los puntos de replanteo independientes del campo de visión bidimensional y fije la trayectoria óptica y el plano de trabajo. Enfoque microscópico de luz incidente, recepción de reflexión y referencia impulsada de forma independiente.

CAL · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo

Puntos correspondientes de calibración y puntos de replanteo independientes que cubren el campo de visión bidimensional, la trayectoria óptica fija y el plano de trabajo.

  • A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
  • A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
  • A109Calibración polinomial de coordenadas físicas a píxel bidimensional
  • A110Mapeo de calibración de puntos láser y propagación de covarianza.
  • A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser

Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json

Capacidades actuales y capacidades a complementar

Parcialmente reutilizable

Requiere calibración, sincronización o integración.

El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.

Brechas en este escenario:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot. La resonancia de alta frecuencia no se puede aceptar directamente mediante extracción de cuadros. La cámara sólo cubre las bandas de frecuencia soportadas por su muestreo y exposición.

Brechas a nivel de ruta:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot.

"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.

Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.

Separe los puntos de calibración y los puntos de replanteo para verificar los errores de borde, avance y retroceso, temperatura y repetición de sujeción. Medidor de ángulo/desplazamiento independiente y comparación de barrido de accionamiento

Artículos de aceptaciónPruebas requeridas para la confirmación del proyecto.Estado actual
Entradas y muestrasMarcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reservaNo proporcionado, esperando aportes del proyecto
Magnitud y errorValor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutuaNo verificado
Excepciones y límitesManejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicaciónPor definir
Integración del sistemaInterfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continuaNo integrado

Fuentes de evidencia y límites de citas

La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.

LS-S19 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Cómo funciona Nanosurf AFM

Punto de luz reflejada, desviación del haz en voladizo y calibración de sensibilidad

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
LS-S15 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Espejo Newport Fast Reflex y tecnología de estabilización activa del haz.

Principios del sistema de deriva de posición, deriva de apuntamiento y compensación activa

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto

Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.

Reproducción de puntos de luz de trayectorias de escaneo de baja frecuencia.

Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.

Teléfono: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

La información completada sólo será utilizada para evaluación y contacto para este proyecto. No envíe información personal no autorizada ni datos confidenciales.