Cómo funciona Nanosurf AFM
Punto de luz reflejada, desviación del haz en voladizo y calibración de sensibilidad
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Frente al espejo de escaneo MEMS, la calibración de coordenadas de superficie objetivo/comando bidimensional se utiliza como ruta de observación, y se planea generar la trayectoria del comando y los residuos del punto de luz. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Cubra los puntos correspondientes calibrados y los puntos de replanteo independientes del campo de visión bidimensional y fije la trayectoria óptica y el plano de trabajo. Enfoque microscópico de luz incidente, recepción de reflexión y referencia impulsada de forma independiente.
Puntos correspondientes de calibración y puntos de replanteo independientes que cubren el campo de visión bidimensional, la trayectoria óptica fija y el plano de trabajo.
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.
Brechas en este escenario:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot. La resonancia de alta frecuencia no se puede aceptar directamente mediante extracción de cuadros. La cámara sólo cubre las bandas de frecuencia soportadas por su muestreo y exposición.
Brechas a nivel de ruta:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot.
"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Separe los puntos de calibración y los puntos de replanteo para verificar los errores de borde, avance y retroceso, temperatura y repetición de sujeción. Medidor de ángulo/desplazamiento independiente y comparación de barrido de accionamiento
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Punto de luz reflejada, desviación del haz en voladizo y calibración de sensibilidad
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Principios del sistema de deriva de posición, deriva de apuntamiento y compensación activa
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Reproducción de puntos de luz de trayectorias de escaneo de baja frecuencia.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357