Esta dirección desglosa y explica productos específicos, tareas de medición, entradas de imágenes, rutas de algoritmos, salidas propuestas y métodos de aceptación, que pueden usarse para evaluar muestras y condiciones del sistema antes del establecimiento de proyectos corporativos.
Alcance de la industria:Placa PCB en blanco y ensamblaje electrónico.
Implica medir rutas:Desplazamiento triangular por láser puntual, topografía tridimensional de escaneo puntual, medición diferencial de superficie bilateral/de referencia.
Placa de montaje PCB · Desplazamiento triangular láser de punto
Especificar la diferencia de altura del punto
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Pines del conector · Topografía 3D de escaneo de puntos
Lista de altura del pin
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Muestra de embalaje de bolas de soldadura · Topografía tridimensional de escaneo de puntos
Altura de la cúpula y relación de puntos efectivos
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Marco principal · Topografía 3D de escaneo de puntos
Puntos anormales de altura de muestreo
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Dispositivo de manipulación de obleas·Desplazamiento triangular por láser puntual
Diferencia de altura del punto de apoyo
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Boquilla parche · Láser puntual de desplazamiento triangular
Curva de desplazamiento Z y diferencia de retorno.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Conjunto de almohadilla térmica · Medición diferencial de superficie bilateral/de referencia
Espesor diferencial de la superficie de referencia
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Asiento de prueba de chip·Desplazamiento triangular láser de punto
Viajar y mantener la deriva
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Altura del ensamblaje electrónico y de semiconductores: 8 posibles escenarios de aplicación de algoritmos de punto láser y punto de luz
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357