Principio de triangulación láser Micro-Epsilon
Transmisión, recepción de imágenes y medición de distancias después de la calibración
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP079 · Altura del conjunto electrónico y semiconductores · Placa PCB en blanco y conjunto electrónico
Parcialmente reutilizable
Medición candidata del espesor de la junta antes y después de la instalación de la prensa
Frente al conjunto de almohadilla térmica, la medición diferencial de ambos lados/superficie de referencia se utiliza como ruta de observación, y se pretende generar el espesor diferencial de la superficie de referencia. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoConjunto de almohadilla térmica
Medir rutaGRUESO · Medición diferencial de superficie bilateral/de referencia
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Conjunto de almohadilla térmica: Medición diferencial de superficie bilateral/de referencia
- pseudo salida
- Espesor diferencial de la superficie de referencia
- Condiciones aplicables
- El rebote de la compresión y la deformación del sustrato deben registrarse simultáneamente
- prioridad
- extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Cabezales de desplazamiento de puntos bilaterales sincronizados, o cabezal único con un plano de referencia estable conocido. Cabezal receptor láser de punto de referencia fijo y plataforma Z de calibración
GRUESO · Medición diferencial de superficie bilateral/de referencia
Cabezales de desplazamiento de puntos bilaterales sincrónicos o cabezal único con una superficie de referencia estable conocida
- A97Calibración lineal de mínimos cuadrados ponderados
- A100Propagación de la incertidumbre de la sensibilidad de primer orden.
- A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
- A103Centro de punto de subpíxel de superficie cuadrática logarítmica
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Parcialmente reutilizable
Requiere calibración, sincronización o integración.
El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.
Brechas en este escenario:Se requieren modelos de calibración de distancia láser puntual, colinealidad/sincronización y espaciado de referencia en ambos lados; la altura de un solo punto no es directamente igual al espesor. El rebote de la compresión y la deformación del sustrato deben registrarse simultáneamente. La reflexión de la superficie de la máquina real y el pequeño rango de medición determinan si se puede captar el punto efectivo.
Brechas a nivel de ruta:Se requieren modelos de calibración de distancia láser puntual, colinealidad/sincronización y espaciado de referencia en ambos lados; la altura de un solo punto no es directamente igual al espesor
"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Utilice cortes gruesos estándar y muestras deformadas para comparar y cambie el ángulo de inclinación y la fase de movimiento para verificar el error diferencial. Bloque patrón, medidor de altura microscópico y comparación de muestras de ensamblaje independiente
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Aplicaciones de desplazamiento Micro-Epsilon
Categorías industriales de medición de altura, distancia y posición.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Descripción de la tecnología de imágenes 3D del NIST
Triangulación activa de puntos, geometría escaneada y propagación de errores.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Medición candidata del espesor de la junta antes y después de la instalación de la prensa
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com