Caja de posicionamiento del punto de luz Wenge STM32H743 y OV9281.
Adquisición de imágenes integradas, umbral adaptativo y funciones públicas de centroide puntual
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP310 · Formación docente y de ingeniería · Formación docente y de investigación científica
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Lectura automática de puntos de difracción de varios órdenes.
Frente al instrumento experimental de óptica ondulatoria, se utiliza la inversión de posición del orden de difracción como ruta de observación, y se planifica generar las coordenadas del orden y el espaciado. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoInstrumento experimental de óptica ondulatoria.
Medir rutaDIFRACT·Inversión de posición del orden de difracción
Calificación de habilidadNecesidad de agregar un nuevo núcleo
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Instrumento experimental de óptica ondulatoria: inversión de posición del orden de difracción
- pseudo salida
- Coordenadas de nivel y espaciado.
- Condiciones aplicables
- Es necesario conocer la rejilla y la referencia de longitud de onda.
- prioridad
- Desarrollo especial. El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Dispositivo de campo lejano en el que se conocen una de las longitudes de onda o períodos, el orden de difracción y la dirección de incidencia. Camino de luz de enseñanza cerrado de baja potencia, objetivo estándar y mesa de movimiento conocido
DIFRACT·Inversión de posición del orden de difracción
Dispositivo de campo lejano en el que se conocen una de las longitudes de onda o períodos, el orden de difracción y la dirección de incidencia.
- A102Extracción de candidatos de dominio conectados con múltiples puntos láser
- A103Centro de punto de subpíxel de superficie cuadrática logarítmica
- A108Coincidencia uno a uno de bits de referencia de puntos múltiples láser
- A111Conversión de píxel de punto láser a ángulo de visión de cámara
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Necesidad de agregar computación central
La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.
Brechas en este escenario:Es necesario agregar ecuación de rejilla/modelo de difracción, identificación de orden y compensación de deriva de temperatura de longitud de onda. Es necesario conocer la rejilla y la referencia de longitud de onda. Los datos de demostración de enseñanza deben indicar el modelo, el muestreo y las unidades.
Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar ecuación de rejilla/modelo de difracción, identificación de orden y compensación de deriva de temperatura de longitud de onda.
"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Realice pruebas cruzadas con rejilla estándar y referencia independiente de longitud de onda/ángulo para solucionar problemas de ambigüedades en los pedidos. Doble verificación de imágenes compuestas analíticas y banco físico.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Notas técnicas de Hamamatsu PSD
Posición del punto de luz, rango triangular y principios de detección sensibles a la posición; El rendimiento del hardware PSD no se transfiere a la implementación de la cámara
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Principio de difracción de la rejilla de Newport
Relación entre orden de difracción, ángulo, longitud de onda y período de rejilla.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Condiciones de colimación de Edmund
Relación entre el tamaño de la fuente, la distancia focal y el ángulo de divergencia.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Lectura automática de puntos de difracción de varios órdenes.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com