LSP306 · Formación docente y de ingeniería · Formación docente y de investigación científica
Módulos reutilizables

Experimento sobre los efectos de la exposición puntual y la saturación en el posicionamiento.

Para el tablero de enseñanza de procesamiento de imágenes, la forma del punto y la distribución relativa se utilizan como ruta de observación, y se planea generar la desviación central y la relación de saturación. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.

Resumen del juicio del proyecto

Producto/DispositivoTablero de enseñanza de procesamiento de imágenes
Medir rutaBM · Forma del punto y distribución relativa
Calificación de habilidadMódulos reutilizables
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.

Tareas comerciales y resultados previstos.

público objetivo
Tablero didáctico de procesamiento de imágenes: forma del punto de luz y distribución relativa
pseudo salida
Escala de desviación central y saturación.
Condiciones aplicables
La escala de grises de píxeles no es iluminación absoluta
prioridad
extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.

Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos

Condiciones de imagen y dispositivo

Las imágenes de respuesta lineal, la atenuación fija y la adquisición de fondo evitan la saturación y el truncamiento del ROI. Camino de luz de enseñanza cerrado de baja potencia, objetivo estándar y mesa de movimiento conocido

BM · Forma del punto y distribución relativa

Imágenes de respuesta lineal, atenuación fija y adquisición de fondo para evitar la saturación y el truncamiento del ROI

  • A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
  • A105Punto láser segundo momento y diámetro del eje principal
  • A106Punto láser que rodea el diámetro de energía.
  • A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser

Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json

Capacidades actuales y capacidades a complementar

Módulos reutilizables

Los módulos existentes se pueden utilizar como hosts.

Como base de cálculo principal se pueden utilizar el posicionamiento del punto de luz existente, el diagnóstico de calidad o los módulos estadísticos; El dispositivo aún debe completar la verificación del ROI, la calibración, el umbral y la interfaz.

Brechas en este escenario:Se requiere escala de píxeles, resta de fondo y verificación de rango dinámico; La integración en escala de grises no es vatios ni julios. La escala de grises de píxeles no es una iluminación absoluta. Los datos de demostración de enseñanza deben indicar el modelo, el muestreo y las unidades.

Brechas a nivel de ruta:Se requiere escala de píxeles, resta de fondo y verificación de rango dinámico; integración en escala de grises, no vatios ni julios

Los "módulos reutilizables" solo describen el volumen de desarrollo relativo y no constituyen un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.

Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.

Verifique el centro, el ancho y el corte por separado con un analizador de haz independiente o un patrón de puntos conocido. Doble verificación de imágenes compuestas analíticas y banco físico.

Artículos de aceptaciónPruebas requeridas para la confirmación del proyecto.Estado actual
Entradas y muestrasMarcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reservaNo proporcionado, esperando aportes del proyecto
Magnitud y errorValor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutuaNo verificado
Excepciones y límitesManejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicaciónPor definir
Integración del sistemaInterfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continuaNo integrado

Fuentes de evidencia y límites de citas

La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.

LS-S01 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Caja de posicionamiento del punto de luz Wenge STM32H743 y OV9281.

Adquisición de imágenes integradas, umbral adaptativo y funciones públicas de centroide puntual

Fecha de verificación: 2026-10-24

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LS-S02 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Notas técnicas de Hamamatsu PSD

Posición del punto de luz, rango triangular y principios de detección sensibles a la posición; El rendimiento del hardware PSD no se transfiere a la implementación de la cámara

Fecha de verificación: 2026-10-24

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LS-S23 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Principio de difracción de la rejilla de Newport

Relación entre orden de difracción, ángulo, longitud de onda y período de rejilla.

Fecha de verificación: 2026-10-24

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LS-S29 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Condiciones de colimación de Edmund

Relación entre el tamaño de la fuente, la distancia focal y el ángulo de divergencia.

Fecha de verificación: 2026-10-24

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Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto

Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.

Experimento sobre los efectos de la exposición puntual y la saturación en el posicionamiento.

Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.

Teléfono: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

La información completada sólo será utilizada para evaluación y contacto para este proyecto. No envíe información personal no autorizada ni datos confidenciales.