LSP055 · Camino óptico de micromecanizado láser · Fabricación aditiva y procesamiento láser
Parcialmente reutilizable

Inspección de alineación relativa de cada subhaz de procesamiento.

Frente al cabezal de procesamiento paralelo de haces múltiples, la comparación del conjunto de puntos de luz de separación se utiliza como ruta de observación, y se pretende generar la distancia del punto del subhaz y la relación de energía. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.

Resumen del juicio del proyecto

Producto/DispositivoCabezal de procesamiento paralelo de haces múltiples
Medir rutaARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.

Tareas comerciales y resultados previstos.

público objetivo
Cabezal de procesamiento paralelo de haces múltiples: comparación de conjuntos de puntos de luz de separación
pseudo salida
Distancia del punto del haz y relación de energía.
Condiciones aplicables
Se requiere relación de muestreo y calibración lineal del sensor.
prioridad
extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.

Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos

Condiciones de imagen y dispositivo

Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos. La luz de procesamiento es una luz guiada de baja potencia, coaxial verificada y atenuada.

ARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados

Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos

  • A102Extracción de candidatos de dominio conectados con múltiples puntos láser
  • A105Punto láser segundo momento y diámetro del eje principal
  • A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
  • A108Coincidencia uno a uno de bits de referencia de puntos múltiples láser
  • A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser

Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json

Capacidades actuales y capacidades a complementar

Parcialmente reutilizable

Requiere calibración, sincronización o integración.

El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.

Brechas en este escenario:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas. Se requiere relación de muestreo y corrección de linealidad del sensor. La posición de la luz guía representa el haz de mecanizado solo dentro del rango de verificación coaxial

Brechas a nivel de ruta:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas

"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.

Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.

Verifique el recuento de puntos, las tasas de coincidencia y las discrepancias utilizando datos conocidos de celosía y defectos artificiales/superposición/codificación. Referencia cruzada con pieza de prueba procesada, analizador de haz y mesa de posicionamiento

Artículos de aceptaciónPruebas requeridas para la confirmación del proyecto.Estado actual
Entradas y muestrasMarcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reservaNo proporcionado, esperando aportes del proyecto
Magnitud y errorValor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutuaNo verificado
Excepciones y límitesManejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicaciónPor definir
Integración del sistemaInterfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continuaNo integrado

Fuentes de evidencia y límites de citas

La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.

LS-S10 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Análisis del rayo láser Ophir

Análisis de puntos de cámara y diagnóstico láser industrial; La medición de potencia requiere sensores especiales.

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
LS-S13 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Calibración del campo de escaneo SCANLAB

Patrones de prueba, mediciones de imágenes y corrección de campo.

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
LS-S16 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Divisor de haz de difracción multipunto Holo/Or

Red láser, órdenes de difracción, espaciado de puntos y configuración óptica.

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto

Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.

Inspección de alineación relativa de cada subhaz de procesamiento.

Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.

Teléfono: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

La información completada sólo será utilizada para evaluación y contacto para este proyecto. No envíe información personal no autorizada ni datos confidenciales.