In dieser Richtung werden spezifische Produkte, Messaufgaben, Bildgebungseingaben, Algorithmusrouten, vorgeschlagene Ausgaben und Akzeptanzmethoden aufgeschlüsselt und erläutert, die zur Bewertung von Proben und Systembedingungen vor der Einrichtung von Unternehmensprojekten verwendet werden können.
Branchenumfang:MEMS und mikroelektromechanische Geräte.
Beinhaltet Messrouten:Reflexionswinkel des optischen Hebels, zweidimensionale Kalibrierung der Befehls-/Zieloberflächenkoordinaten, mechanische Umkehrung des optischen Hebels, Punktlaser-Dreiecksverschiebung, Punktform und relative Verteilung.
MEMS-Reflektor · Reflektierender optischer Hebelwinkel
Kandidaten für Spannung und Reflexionswinkel
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →MEMS-Scanspiegel · 2D-Befehls-/Zielkoordinatenkalibrierung
Befehlsflugbahn und Restpunktposition
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Probe mit Mikroauslegerbalken · Umkehrung der Mechanik des optischen Hebels
Endwinkel vs. Lastkurve
Sonderentwicklung:Der Mess-/Regelungskern muss entsprechend der Sonderprojektgenehmigung ergänzt und verifiziert werden
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Mikromembran · Umkehrung der optischen Hebelmechanik
Der Druck entspricht der Verschiebung des Reflexionspunkts
Sonderentwicklung:Der Mess-/Regelungskern muss entsprechend der Sonderprojektgenehmigung ergänzt und verifiziert werden
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Mikrorelais-Probe · Punktlaser-Dreiecksverschiebung
Aktionsendpunkt und Rückgabefähigkeit
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Piezoelektrische Mikroplattform · Zweidimensionale Befehls-/Zielkoordinatenkalibrierung
2D-Mapping und Backhaul-Unterschied
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Mikrogedrehter Strahl · Umkehrung der optischen Hebelmechanik
Drehwinkel und Ladeschlaufe
Sonderentwicklung:Der Mess-/Regelungskern muss entsprechend der Sonderprojektgenehmigung ergänzt und verifiziert werden
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →Mikrolinsen-Aktuator · Punktform und relative Verteilung
Antriebsmenge und Spotform
Allgemeine Erweiterungen:Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Eingaben, Ausgaben, Lücken und Validierungsmethoden anzeigen →MEMS und Cantilever-Beam-Geräte: 8 mögliche Anwendungsszenarien von Laserpunkt- und Lichtpunktalgorithmen
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357