Duma-Anwendung zur Strahlpositionierung und optischen Anpassung
Anwendungskategorien für Strahlposition, optischen Aufbau und Spotform
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Mit Blick auf das Projektionsobjektiv und unter Verwendung der Lichtfleckposition auf der Zieloberfläche als Beobachtungsroute sollen die Bildebenenmittendifferenz und die Rückkehreigenschaft ausgegeben werden. Die Seite dient der Projektbewertung und bedeutet nicht, dass die Entwicklung abgeschlossen oder vor Ort abgenommen wurde.
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und Hintergrund im Sichtfeld ab. Kollimierte Laser, Bild-/Projektionsziele und Vorrichtungen
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und den Hintergrund im Sichtfeld ab
Vorhandene algorithmische Beweise:A101–A112 nur vollständige analytische Synthese vor Ort und kontrollierte Geometrieüberprüfung; siehe laser_spot_benchmark.json
Als wesentliche Berechnungsgrundlage können vorhandene Lichtpunktpositionierungs-, Qualitätsdiagnose- oder Statistikmodule genutzt werden; ROI, Kalibrierung, Schwellenwert und Schnittstellenüberprüfung müssen noch vom Gerät durchgeführt werden.
Lücken in diesem Szenario:ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition sind erforderlich; Nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche kann direkt beobachtet werden. Die Objekt-Bild-Beziehung muss stabilisiert werden. Zum Testen verwendete Laserpunkte stellen nicht die volle Bildqualität dar
Lücken auf Routenebene:Erfordert ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition; kann nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche direkt beobachten
„Wiederverwendbare Module“ beschreiben lediglich das relative Entwicklungsvolumen und stellen keine Zusage zu Genauigkeit, Tempo, Stabilität oder Lieferzeit dar.
Unabhängig getestet mit einem zweidimensionalen Verschiebungstisch und festen Referenzpunkten, wobei Mittenfehler P95, verpasste Erkennungen und falsche Erkennungen gemeldet werden. Standardbildebene, Winkeltabelle und Bildtestkarte werden separat akzeptiert
| Annahmeartikel | Für die Projektbestätigung sind Nachweise erforderlich | Aktueller Stand |
|---|---|---|
| Eingaben und Beispiele | Echte Originalbilder des Geräts, normale/abnormale Proben, Belichtungs- und Lichtwegbedingungen, Probengruppierung und -beiseite | Nicht bereitgestellt, wartet auf Projekteingabe |
| Größe und Fehler | Unabhängiger Referenzwert, Kalibrierungsprotokoll, Fehlerstatistikkaliber und gegenseitige Bestätigungsschwelle | Nicht verifiziert |
| Ausnahmen und Grenzen | Voraussichtlicher Umgang mit verpassten Erkennungen, falschen Erkennungen, Überbelichtung, Okklusion, Reflexion, Außer-Sicht- und Kommunikationsstörungen | Zu definieren |
| Systemintegration | Schnittstelle, Zeitsynchronisierung, Bereitstellungsplattform, Tempo, Protokoll, Version und kontinuierliche Laufaufzeichnung | Nicht integriert |
Die Quelle unterstützt Messprinzipien oder ähnliche Anwendungen; Die Modulkombination, das Gerät und die Akzeptanzmethode in diesem Szenario sind technische Ableitungen und die Produktüberprüfung wurde noch nicht abgeschlossen.
Anwendungskategorien für Strahlposition, optischen Aufbau und Spotform
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Das Prinzip, bekannte Projektionsmuster und geometrische Verformungen zur Messung zu nutzen
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Zusammenhang zwischen Quellengröße, Brennweite und Divergenzwinkel
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Prüfung des Bildebenenversatzes des Laserreferenzpunkts
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357