การศึกษาเปรียบเทียบการตอบสนองทางความร้อนก่อนและหลังการเคลือบ

สรุปการตัดสินโครงการ

งานทางธุรกิจและผลลัพธ์ที่ตั้งใจไว้

กลุ่มเป้าหมาย

พื้นผิวเคลือบ: การโก่งตัวของโพรบความร้อนด้วยแสง

เอาท์พุทหลอก

ความแตกต่างของการโก่งตัวของการปรับ

เงื่อนไขที่บังคับใช้

ความหนาของฟิล์มไม่สามารถกำหนดได้โดยตรงจากสัญญาณความถี่เดียว

ลำดับความสำคัญ

การพัฒนาพิเศษ. แกนการวัด/การควบคุมจำเป็นต้องได้รับการเสริมและตรวจสอบตามการอนุมัติโครงการพิเศษ

อินพุตภาพและการกำหนดเส้นทางอัลกอริทึม

สภาพภาพและอุปกรณ์

ทราบเส้นทางแสงของปั๊ม/โพรบ การอ้างอิงการปรับ และขอบเขตความร้อน และตัวอย่างครอบคลุมความถี่การปรับ เส้นทางแสงของปั๊ม/โพรบ การมอดูเลตแบบซิงโครไนซ์ และสภาพแวดล้อมอุณหภูมิที่ควบคุม

THERMAL · การโก่งตัวของโพรบความร้อนใต้แสง

ทราบเส้นทางแสงของปั๊ม/โพรบ การอ้างอิงการปรับ และขอบเขตความร้อน และการสุ่มตัวอย่างครอบคลุมความถี่การปรับ

• A74การแปลงฟูเรียร์ในช่วงเวลาสั้น ๆ STFT
• A101จุดเลเซอร์จุดศูนย์กลางแบบปรับได้ระดับสีเทาเซนทรอยด์
• A103จุดศูนย์กลางพิกเซลย่อยของพื้นผิวกำลังสองแบบลอการิทึม
• A107การวินิจฉัยคุณภาพจุดเลเซอร์และการใช้งาน
• A112เลเซอร์ตรวจจับความสามารถในการทำซ้ำสองมิติและวงรีครอบคลุม

หลักฐานอัลกอริทึมที่มีอยู่:A101–A112 ทำได้เฉพาะจุดการสังเคราะห์เชิงวิเคราะห์และการตรวจสอบเรขาคณิตแบบควบคุมเท่านั้น ดูที่ laser_spot_benchmark.json

ความสามารถและความสามารถในปัจจุบันที่จะเสริม

ช่องว่างในฉากนี้:จำเป็นต้องเพิ่มแบบจำลองการล็อคเฟส/การแพร่กระจายความร้อน/การหักเหของแสง และการผกผันพารามิเตอร์คุณสมบัติทางกายภาพใหม่ การโก่งตัวของภาพไม่ได้ให้ค่าการนำความร้อนหรือการดูดซับโดยตรง ไม่สามารถกำหนดความหนาของฟิล์มได้โดยตรงจากสัญญาณความถี่เดียว ผลลัพธ์ของคุณสมบัติทางกายภาพทั้งหมดเป็นการผกผันที่ต้องได้รับการพัฒนาและไม่ได้แทนที่โดยตรงด้วยการกระจัด

ช่องว่างระดับเส้นทาง:จำเป็นต้องเพิ่มแบบจำลองการล็อคเฟส/การแพร่กระจายความร้อน/การหักเหของแสง และการผกผันพารามิเตอร์คุณสมบัติทางกายภาพใหม่ การโก่งตัวของภาพไม่ได้ให้ค่าการนำความร้อนหรือการดูดซับโดยตรง

"ต้องใช้คอร์ใหม่" อธิบายเฉพาะปริมาณการพัฒนาที่สัมพันธ์กันเท่านั้น และไม่ถือเป็นความมุ่งมั่นต่อความแม่นยำ จังหวะ ความเสถียร หรือเวลาในการส่งมอบ

วิธีการตรวจสอบและข้อกำหนดเบื้องต้นในการยอมรับ

ตรวจสอบการผกผันโดยใช้วัสดุอ้างอิงและเครื่องวิเคราะห์ความร้อนอิสระ ความถี่ที่แตกต่างกัน การชดเชยลำแสง และเงื่อนไขขอบเขต วัสดุอ้างอิง ตัวอย่างเปล่า และการเปรียบเทียบเครื่องมือคุณสมบัติทางกายภาพที่เป็นอิสระ

แหล่งหลักฐานและขอบเขตการอ้างอิง

แหล่งที่มารองรับหลักการวัดหรือการใช้งานที่คล้ายกัน การรวมโมดูล อุปกรณ์ และวิธีการยอมรับในสถานการณ์นี้เป็นที่มาทางวิศวกรรม และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ยังไม่เสร็จสมบูรณ์

สถานการณ์จำลองการใช้งานอื่นๆ ที่เป็นไปได้สำหรับการวิจัยความร้อนใต้พิภพในวัสดุและวิศวกรรมเคมี